[实用新型]X荧光分析系统中样品托举平台保护装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种X荧光分析系统中样品托举平台保护装置，非常适用于利用核分析仪器过程中，样品托举环节对样品进行保护。

背景技术

核技术是现代科学技术的重要组成部分，是当代最主要的尖端技术之一，也是社会现代化的标志之一。自1896年X射线荧光被发现，1948年出现了第一台商品性的波长色散X射线荧光分析仪以来，X射线荧光分析技术发展迅速。尤其是20世纪90年代以来，随着电子技术和计算机的飞速发展，X射线荧光分析仪和X射线荧光分析技术及其计算机软件的不断开发，X射线荧光分析仪现已由单一的波长色散 X射线荧光分析仪发展成拥有波长色散、能量色散、电子探针、全反射、同步辐射和质子 X 射线分析仪等一大家族。X射线荧光分析技术的使用已经渗透到了科学研究、医学、农业、工业等各个领域。目前，世界上有近100个国家在进行X射线荧光分析技术的开发和利用。经过半个多世纪的发展，X射线荧光分析产业取得了日益明显的经济效益。2014年统计数据显示，全球X射线荧光分析产业的年产值已经超过1000亿美元。

随着X射线荧光分析技术的发展，X射线荧光分析仪器的研制也一直受到人们广泛的关注。在X射线荧光分析仪器的使用过程中，测试样品制备是必不可少的。考虑到X射线荧光分析仪器工作过程中需要将样品通过机械装置推送到分析室，被测样品存在受挤压、推送位置不准确的情况，直接影响分析结果，甚至导致严重的生产事故。另外，样品制备过程相当繁琐，由于分析仪器的原因致使被测样品受损将会消耗大量的人力物力重新制作样品。鉴于国内X射线荧光分析仪器产业巨大的市场潜力和良好的应用前景，研制一种安全可靠、价格便宜的样品保护装置显得非常迫切。

发明内容

本实用新型的目的在于克服上述技术的不足，提供一种X荧光分析系统中样品托举平台保护装置，该装置针对目前X射线荧光分析仪对样品托举及定位的应用要求，将电机反馈信号提取模块、红外传感器模块、信号滤波电路、模数信号转换模块、微处理器和电机驱动模块采用系统化设计，构成一个可完成确定样品摆放位置、防止机械挤压破坏样品的综合系统，具有结构简单、价格低廉、反应灵敏、保护样品安全等优点。

为能达到上述发明目的，所采用的技术方案是：一种X荧光分析系统中样品托举平台保护装置，包括电机反馈信号提取模块、红外传感器模块、信号滤波电路、模数信号转换模块、微处理器和电机驱动模块。所述电机反馈信号提取模块用于把电机运行过程中反馈的电流信号转换成电压信号；所述电机反馈信号提取模块与电机驱动模块和信号滤波电路连接；所述信号滤波电路对电机反馈信号提取模块输出的信号进行噪声滤除；所述信号滤波电路与模数信号转换模块相连接；所述模数信号转换模块完成对信号滤波电路输出信号的模数转换；所述模数信号转换模块集成于微处理器内部；所述红外传感器模块用于检测样品是否放入样品托举平台的指定区域；所述红外传感器模块与微处理器相连接；所述微处理器完成对红外传感器模块输出信号的采集；所述微处理器分别与PC机系统和电机驱动模块相连接；所述PC机系统用于接收微处理器发出的指令信号；所述电机驱动模块用于控制X荧光分析系统中样品托举平台。

通过上面的叙述可以看出，本实用新型具有以下优点：在结构设计上，采用一体化设计方案，方便现场安装和维护；在系统设计上，采用滤波电路滤除电机反馈信号噪声，采用模数信号转换器将电机反馈的模拟量信号转换为数字量信号，同时与电机驱动模块进行一体化设计；在功能设计上，完成对样品放置位置进行定位的同时，把监测样品托举平台的工作状态功能集成到系统中，方便对被测样品进行保护；在技术指标上，模数信号转换模块的采集率大于200kHz，系统反应时间＜150μs。

附图说明

图1为本实用新型提供的X荧光分析系统中样品托举平台保护装置的模块连接原理图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步描述：