[实用新型]消杂光双光路光学定中仪

权利要求书

1.一种消杂光双光路光学定中仪，其特征在于由光电探测器（1）、自准直仪（2）、起偏器（3）、偏振分束器（4）、三个平面反射镜（5、13、14）、三个检偏器（6、7、8）、两个近距离变焦望远镜（9、10）、空气轴承转台（12）、圆度仪（15）、计算机平台（16）组成；所述自准直仪用于提供携带十字像信号的平行光，至起偏器（3）产生线偏振光，并由偏振分束器（4）产生偏振方向相互垂直的S光和P光；S光经过第一检偏器（6）、第二检偏器（7）并由第二近距离变焦望远镜（10）聚焦在固定在空气轴承转台（12）上的待测光学部件（11）所测镜片上表面的曲率中心；P光由第一平面反射镜（5）反射经过第三检偏器（8）并由第一近距离变焦望远镜（9）聚焦在所测镜片下表面曲率中心；S光和P光由所测镜片上下表面反射，并由光电探测器（1）摄取反射光的十字像信号，计算机平台（16）计算分析所测镜片的中心偏差，根据镜片中心偏差调整镜片进行校正定中；圆度仪（15）用于检测待测光学部件（11）的镜筒与空气轴承转台（12）的同轴性。

2.根据权利要求1所述的消杂光双光路光学定中仪，其特征在于所述光电探测器为CCD、CMOS或其它光电探测器。

3.根据权利要求1所述的消杂光双光路光学定中仪，其特征在于所述起偏器为偏振片或尼科耳棱镜；所述起偏器将自然光变为线偏振光，通过旋转该起偏器改变反射S光和透射P光的光强比。

4.根据权利要求1所述的消杂光双光路光学定中仪，其特征在于所述检偏器为偏振片；反射S光和透射P光光路的检偏器正交，且上述检偏器透振方向分别与S光和P光偏振方向相同；通过待测光学部件的反射S光不能通过透射P光光路中的检偏器，同理通过待测光学部件的反射P光也不能通过透射S光光路中的检偏器。

5.根据权利要求1所述的消杂光双光路光学定中仪，其特征在于所述空气轴承转台有通光孔，并有调平调心载物台，载物台用于固定待测光学部件。

6.根据权利要求1所述的消杂光双光路光学定中仪，其特征在于所述计算机平台用于分析光电探测器十字像信号，计算待测光学部件所测表面的中心偏差和处理圆度仪检测结果。

7.根据权利要求1所述的消杂光双光路光学定中仪，其特征在于反射S光和透射P光均使用空气轴承转台旋转轴作为参考轴。