[实用新型]光纤插头试验安置盒

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种光纤试验装置，特别涉及一种光纤插头试验安置盒。

背景技术

变电站站内的保护装置与智能组件之间的通信，均大量地使用光纤。其中的光纤接头为各个厂家以及相关专家研究的重点。光纤插头是由折射率很高的二氧化硅材料组合而成，用于传输信号，如果插头弯曲或表面受损，都将影响光的传送，使信号丢帧，影响通信。

光缆入柜之后，均通过法兰盘内的插座与屏柜内的尾纤相连，从而将信号通过尾纤接入保护装置、智能终端、合并单元以及交换机等光通信设备。

运维人员对设备进行检修试验时，特别是对光纤进行衰耗测试时，都会把尾纤插头从设备上拔下来，对装置和光纤分别进行测试检修。

从工作量方面考虑，运维人员需要对每条光纤进行光衰减测量，所以要求测试工作效率要高。之前的测试方法只能依次对单根光纤进行测量，工作耗时大、效率低。运维人员面临的问题是，如何提高工作效率，节省时间。

从安全性方面考虑，之前的测试方法为了防止光纤插头损伤，对测试完的光纤插头需要套上“保护帽”丢在屏柜里或者重新恢复到设备的光纤接口上。采用套上“保护帽”丢在屏柜里的方法，在光纤数量较多时，屏柜内的光纤放置将非常杂乱，容易造成光纤恢复错误。采用重新恢复到设备的光纤接口上的方法，在需要对光纤进行反复测试时，容易造成设备的光纤接口损坏。运维人员面临的问题是，如何放置这些光纤插头，以保证光纤插头无损伤。

实用新型内容

为了提高光纤测试工作的效率，同时保证在测试工作中不损伤设备的光纤接口和光纤插头，本实用新型提供了一种光纤插头试验安置盒，包括：壳体，其一个面上形成有开口；分光器，其通过所述开口使得其主体安装于所述壳体的内部空间，且其面板位于所述开口处；吸附装置，其固定设置于所述壳体的其他面中的至少一个面的外壁上，其中，所述分光器的面板上设置有多个光纤耦合连接器，其中一个用于光信号的输入，其他的一个或多个用于光信号的输出。

优选地，所述壳体为立方体状，其在与所述开口所在的面相垂直的两相对的面的内壁上设置有滑槽，所述分光器的主体能够沿着所述滑槽通过所述开口安装于所述壳体的内部空间。所述分光器的面板上还设置有插销，所述壳体在所述开口处与所述插销对应的位置设置有与所述插销相匹配的插孔。优选地，所述插销和插孔均为两个，两个所述插销分别位于所述分光器的面板的相对的两个边部。

优选地，所述分光器为多个，所述光纤耦合连接器的接头上设置有保护套，所述壳体为绝缘壳体，所述吸附装置为至少一块磁铁。

利用本实用新型的光纤插头试验安置盒，可以将需要测试的光纤插头放置在安置盒对应的接口上进行测试或者存放，这样不仅可以提高测试效率，还能够避免光纤插头受损。

附图说明

图1为本实用新型的光纤插头试验安置盒的示意图(其中分光器处于半拉出状态)；

图2为本实用新型的光纤插头试验安置盒的立体图；

图3为本实用新型的光纤插头试验安置盒的一个实施例的示意图；

图4为本实用新型的光纤插头试验安置盒的另一个实施例的示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型的光纤插头试验安置盒作进一步的详细描述，但不作为对本实用新型的限定。

参照图1至图4，为本实用新型的光纤插头试验安置盒的结构示意图。该光纤插头试验安置盒包括壳体100、分光器200、吸附装置300。

壳体100的材质为绝缘材质，其一个面上形成有开口110，其内部还形成有内部空间。分光器200通过开口110安装于壳体100的内部空间，参照图1，当分光器200安装到位之后，其主体位于壳体100的内部空间，其面板210位于开口110处。分光器200的面板210上设置有多个光纤耦合连接器211，其中一个用于光信号的输入，其他的一个或多个用于光信号的输出。

例如，图1中所示的分光器200的面板210上设置的光纤耦合连接器211的个数为八个，其中最左边的一个用于光信号的输入，右边的七个用于光信号的输出，从而实现分光的功能。进行光衰耗测试的时候，将连接光源的光纤连接到最左边的光纤耦合连接器，即将该光纤的光纤插头插入该光纤耦合连接器的接头，并且将需要测试的光纤依次连接到其他的几个光纤耦合连接器；然后测试人员在这些待测光纤的另一端用光功率计测量接收到的光功率，从而计算出每条光纤的光衰耗值。假设光源的光功率值为A dB，用光功率计测量得到的光功率为B dB，该分光器的衰减为C dB，则光纤的衰耗值为(A-B-C)dB。