[实用新型]OLED模组测试系统有效

专利信息
申请号: 201520028745.9 申请日: 2015-01-15
公开(公告)号: CN204375389U 公开(公告)日: 2015-06-03
发明(设计)人: 彭骞;严运思;刘荣华;帅敏;雷新军;沈亚非;陈凯 申请(专利权)人: 武汉精测电子技术股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G01R31/00
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 黄行军;刘琳
地址: 430070 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: oled 模组 测试 系统
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及液晶模组测试领域,具体涉及一种可提供多路电源以及多种接口信号的OLED模组测试系统。

背景技术

OLED(有机电激光显示)具有轻薄、无视角问题、高清晰、高亮度、响应快速、能耗低等诸多优点,目前,OLED正迅速取代传统的LCD(液晶显示器)成为显示产业的主流技术。液晶显示技术发展较早,其模组显示质量的检测技术较为成熟,OLED模组产线上一般都是采用传统的液晶模组测试系统对OLED模组的显示质量进行检测,由于OLED模组的发光机理和液晶模组有着很大的区别,OLED模组的电源种类更多,对电源控制精度的要求更高,因此采用传统的液晶模组测试系统对OLED模组进行检测存在很多局限性。

近年来,韩国ELP公司开发了一种仅适用于小尺寸OLED模组的OLED测试设备,该OLED测试设备体积较大、电压调节范围窄、支持信号接口单一,不具备测试DP信号等视频信号的功能。

发明内容

针对现有技术的不足,本实用新型的目的在于提供一种OLED模组测试系统和测试方法,适用于大中小尺寸,能支持多路电源输出的OLED模组测试系统,测试系统能同时兼容多种信号接口,且每路电源可独立开关调节。

为实现上述目的,本实用新型所设计的OLED模组测试系统,其特殊之处在于,包括程控信号源、程控电源、上位机以及AC-DC电源;所述程控电源包括第二MCU控制单元和电源输出模块,所述电源输出模块的输入端与第二MCU控制单元连接,所述电源输出模块 的多路输出端分别与待测OLED模组连接;所述程控信号源包括ARM核心模块、图像信号发生模块和信号接口转换模块,所述ARM核心模块分别与上位机、第二MCU控制单元、图像信号发生模块和信号接口转换模块连接,所述图像信号发生模块的输出端与信号接口转换模块连接,所述信号接口转换模块的输出端与待测OLED模组连接;所述AC-DC电源分别与程控信号源和程控电源连接。

进一步地,所述电源输出模块包括多路电源输出,每一路电源输出包括一个电压生成单元和一个电源监控保护单元。程控电源中的第二MCU控制单元与ARM核心模块进行交互通讯后控制多路电源输出的输出电压值及门限阀值。

更进一步地,所述信号接口转换模块包括FPGA信号处理单元、MIPI接口转换单元、DP接口转换单元和第一MCU控制单元,所述图像信号发生模块通过所述FPGA信号处理单元分别与MIPI接口转换单元和DP接口转换单元连接,所述第一MCU控制单元分别与ARM核心模块、FPGA信号处理单元、MIPI接口转换单元和DP接口转换单元连接,所述FPGA信号处理单元、MIPI接口转换单元(13-2)和DP接口转换单元的输出端分别与待测OLED模组连接。第一MCU控制单元与ARM核心模块进行交互通讯后根据待测OLED模组的通信接口如LVDS、MIPI或者DP接口选通相应信号接口转换模块的信号输出。

更进一步地,所述电源输出模块中的一路电源输出为VDD电压生成单元和VDD电源监控保护单元,为待测OLED模组提供VDD电压及VDD电源监测保护。

更进一步地,所述电源输出模块中的一路电源输出为VDDIO电压生成单元和VDDIO电源监控保护单元,为待测OLED模组提供VDDIO电压及VDDIO电源监测保护。

更进一步地,所述电源输出模块中的一路电源输出为ELVDD电压生成单元和ELVDD电源监控保护单元,为待测OLED模组提供 ELVDD电压及ELVDD电源监测保护。

更进一步地,所述电源输出模块中的一路电源输出为ELVSS电压生成单元和ELVSS电源监控保护单元,为待测OLED模组提供ELVSS电压及ELVSS电源监测保护。

本实用新型的有益效果在于:

1)本实用新型同时兼容LVDS、RGB、MIPI、DP四种接口信号,使得本实用新型能适用于不同尺寸OLED模组的测试需求;

2)本实用新型能提供多路电源输出,且每路电源输出可独立开关调节,突破了传统液晶模组测试系统对OLED模组进行检测的局限性。

附图说明

图1为本实用新型OLED模组测试系统的电路方框图;

图2为使用本实用新型的测试方法的流程图。

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