[实用新型]一种计量型微纳台阶高度测量装置有效

专利信息
申请号: 201520016874.6 申请日: 2015-01-09
公开(公告)号: CN204346373U 公开(公告)日: 2015-05-20
发明(设计)人: 施玉书;高思田;沈飞;王兴旺;李适;李伟;李琪;王鹤群;皮磊 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/22
代理公司: 北京东正专利代理事务所(普通合伙) 11312 代理人: 刘瑜冬
地址: 100013 北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 计量 型微纳 台阶 高度 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种计量型微纳台阶高度测量装置,包括支撑系统(1)以及安装在支撑系统上的白光显微测头(2)、位移扫描系统(3)和计量系统(4),其特征在于,支撑系统包括底板(11)以及固接在底板上的“[”形立柱(12);

白光显微测头包括光源模块(22)、照明模块(23)、CCD模块(24)、管镜模块(25)以及干涉物镜模块(26),光源模块与照明模块通过第一光纤(27)连接,CCD模块与管镜模块以及干涉物镜模块与照明模块之间均通过螺纹连接,管镜模块与照明模块之间通过卡口卡接;

位移扫描系统包括安装在“[”形立柱内壁的升降台(31)、固接在升降台侧壁的升降载板(32)以及安装在升降载板上的纳米位移台(33)和可调倾斜载物台(34),可调倾斜载物台固接在纳米位移台上方,升降载板通过直线轴承结构(35)与“[”形立柱滑动连接;

计量系统包括固接在升降载板底部的激光干涉仪,参考反射镜(42)以及测量反射镜(43),其中激光干涉仪包括干涉头(41)和激光光源(422),干涉头通过第二光纤(421)与激光光源相连接;干涉头上开设有测量光束进出口(411)和参考光束进出口(412),参考反射镜固接在干涉头表面且垂直于参考光束;位移扫描系统底端固接有倾斜调节结构(37),测量反射镜固接在倾斜调节结构底端面上且垂直于测量光束。

2.根据权利要求1所述的计量型微纳台阶高度测量装置,其特征在于,底板与“[”形立柱之间安装有弧面座(13)。

3.根据权利要求2所述的计量型微纳台阶高度测量装置,其特征在于,“[”形立柱的左右两侧以及背面均安装有走线盒(121),走线盒上开设有供第一光纤通过的钣金线槽(122)。

4.根据权利要求1所述的计量型微纳台阶高度测量装置,其特征在于,升降载板上设置有上肋板(321)和下肋板(322),且升降载板为一体成型结构。

5.根据权利要求1所述的计量型微纳台阶高度测量装置,其特征在于,可调倾斜载物台与纳米位移台之间安装有转接板(38);纳米位移台中部开设有通孔,倾斜调节结构由螺栓固定到转接板底端并通过纳米位移台的通孔。

6.根据权利要求1所述的计量型微纳台阶高度测量装置,其特征在于,倾斜调节结构采用柔性铰链结构。

7.根据权利要求1所述的计量型微纳台阶高度测量装置,其特征在于,纳米位移台与升降台的扫描方向与光轴平行,并且纳米位移台和升降台均竖直放置/水平放置。

8.根据权利要求1所述的计量型微纳台阶高度测量装置,其特征在于,直线轴承结构包括两组结构相同的滑动组件,每组滑动组件均包括导轴座(351)以及固接在导轴座顶端的导轴(352),导轴底端通过两个配套的半圆锁紧件(353)与导轴座固定连接,顶端向上延伸至伸出升降载板并穿过固接在升降载板上方的轴承(354)。

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