[实用新型]印制电路板型磁场探头有效
| 申请号: | 201520012242.2 | 申请日: | 2015-01-08 |
| 公开(公告)号: | CN204389661U | 公开(公告)日: | 2015-06-10 |
| 发明(设计)人: | 万发雨;冯超超;安苏生 | 申请(专利权)人: | 南京信息工程大学 |
| 主分类号: | G01R33/02 | 分类号: | G01R33/02 |
| 代理公司: | 南京众联专利代理有限公司 32206 | 代理人: | 顾进;叶涓涓 |
| 地址: | 210044 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 印制 电路板 磁场 探头 | ||
技术领域
本实用新型属于磁场变量测量装置技术领域,具体涉及一种印制电路板型磁场探头。
背景技术
电磁兼容要求电子设备不对其他设备产生干扰、对其他设备的发射不敏感以及不对自身产生干扰。电磁辐射会对正在工作的电子设备产生干扰,如今,电子产品不断追求小型化,尤其在微波频率范围时,产品或电路的物理尺寸相对较小,产品的排布也随之越来越密集,因此,产品中的各小的模块不仅可能对对其他设备产生干扰,更可能对自身设备产生电磁干扰。为了定位这些干扰源,我们可以采用近场测试的方法,这已被证明是一种很有效的方法,这时就需要分辨率较高的磁场探头。而传统的用同轴线绕制的环型磁场探头在探头直径上往往会受到限制,因为同轴线的本身直径就有2-3毫米,要把同轴线型探头做到直径小于5mm时会比较困难,这就很难用于测量小型产品的电磁干扰,并且现有的磁场探头的加工工艺也不理想。
发明内容
为解决上述问题,本实用新型公开了一种印制电路板型磁场探头,采用三层印制电路板技术对探头进行了加工,大幅缩小了探头尺寸,并增大了频带范围。
为了达到以上目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种印制电路板型磁场探头,包括探头本体、SMA接头、以及分别覆盖在探头本体上下表面的两块接地板,所述探头本体包括杆体和连接在杆体一头的探头环,所述探头环呈圆环状,探头环与杆体之间具有缺口,所述缺口旁设有过孔,所述探头本体通过过孔分别与两块接地板相连,所述接地板一端设有屏蔽环,屏蔽环中部开有缝隙,所述屏蔽环形状与探头环相匹配,屏蔽环宽度大于探头环,SMA接头与探头本体和两块接地板连接。
进一步的,所述探头本体通过过孔与SMA接头连接。
进一步的,所述探头本体由带状线制成。
进一步的,所述带状线介质为FR4。
有益效果:
本实用新型提供的印制电路板型磁场探头探头环直径小,可以达到1mm左右,大幅提高了探头的空间分辨率,频带范围也较宽,能够达到10MHz-10GHz,本探头结构简单,生产成本较低,易于加工,经测试证明探头具有较好的灵敏度,测量结果较为精确。
附图说明
图1为印制电路板型磁场探头结构示意图;
图2为揭去一层接地板的印制电路板型磁场探头示意图;
图3为印制电路板型磁场探头的探头环部分立体示意图;
图4为测量印制电路板型磁场探头S11曲线时的设备连接示意图;
图5为印制电路板型磁场探头的仿真与测量S11曲线图;
图6为测量印制电路板型磁场探头S21曲线时的设备连接示意图;
图7为印制电路板型磁场探头的仿真与测量S21曲线图;
图8为频率3GHz时输出磁场分布仿真与测试结果归一化值。
附图标记列表:
1-探头本体,11-杆体,12-探头环,13-缺口,2-SMA接头,3-接地板,31-杆部32-屏蔽环,33-缝隙,4-过孔,5-同轴电缆,7-微带线,8-负载。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式,进一步阐明本实用新型,应理解下述具体实施方式仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围。需要说明的是,下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向,词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。
本例提供的印制电路板型磁场探头尺寸很小,探头环直径可以做到1mm-5mm,其结构示意图如图1、图2、图3所示,主要包括探头本体1、SMA接头2、以及分别覆盖在探头本体上下表面的两块接地板3,所述探头本体1由带状线加工制作而成,带状线介质为FR4,特性阻抗50欧,带状线一端成平直状形成杆体11,另一端弯曲成圆环形形成探头环12,探头环12并不是闭合的圆环,而是与杆体之间具有缺口13,缺口13旁设有过孔4,所述探头本体1通过过孔4分别与两块接地板3相连。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京信息工程大学;,未经南京信息工程大学;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520012242.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种新型弱磁场精密测量电路
- 下一篇:一种耐压测试台





