[实用新型]新型可调节测试插座盖

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种芯片测试插座盖，具体为一种新型可调节测试插座盖。

背景技术

随着科学技术的发展，电子芯片已经广泛应用于各种电子产品中。在完成芯片大批量生产后，需要对芯片的合格性进行检测，以此来挑选出不合格的芯片，而保留合格的芯片。然而，由于芯片属于高精密产品，在对其进行检测的时候，需要将检测模具的探针准确对准芯片上的引脚，因此，对裸露的芯片放置在测试工装夹具时，需要对裸芯片进行准确定位，才能对裸芯片进行准确检测。而传统的测试设备只能同一个测试设备应用于一种厚度的芯片测试，即使同样长宽尺寸的芯片，由于芯片厚度不同，也需要制作新的插座盖来保证精密测量，造成成本过高。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是：为克服上述问题，提供一种能测试不同厚度芯片的新型可调节测试插座盖。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种新型可调节测试插座盖，其特征在于，包括中空的底座，所述底座上侧设置有上壳体，所述底座的一侧与所述上壳体的一侧可旋转的连接，所述上壳体上在与所述底座连接侧的相对一侧设置有可旋转的锁定件，所述锁定件可锁扣在所述底座的卡扣上，所述上壳体的下侧还弹性固定有压板，所述上壳体中间设置有圆柱形的中空部，所述中空部的内壁上设置有内螺纹，所述中空部内设置有压圈，所述压圈上设置有与所述内螺纹配合的外螺纹，所述压圈上固定连接有旋钮部，所述压圈和旋钮部之间固定有刻度盘，所述刻度盘上设置有多个定位孔，所述上壳体上设置有与所述定位孔对应的定位件，所述刻度盘上在所述压圈一侧还设置有限位件，所述限位件限制压圈旋转的角度。

优选地，所述定位件为定位销，所述定位销从所述上壳体下侧贯穿后伸入所述定位孔中，所述定位销的下端还连接有固定座，所述固定上还设置有按钮件，所述按钮件贯穿所述上壳体后伸出。

优选地，所述上壳体在所述锁定件的两侧分别设置有两个凸起块，所述锁定件的两边侧中间分别设置有销孔，所述两个凸起块上设置的边侧销分别伸入所述销孔内，所述锁定件与所述上壳体之间还设置有弹簧，所述锁定件上在靠近所述上壳体的一侧上部设置有卡孔，所述上壳体上对应设置所述卡孔设置有卡固销，所述卡固销贯穿所述上壳体外壁延伸入所述中空部中，所述卡固销可被所述旋钮部顶出并伸入卡孔内。

优选地，所述中空部的上边缘设置有对应所述刻度盘的凹槽，所述刻度盘可在所述凹槽内旋转。

优选地，所述压板通过弹簧固定连接到上壳体的下侧。

优选地，所述底座的一侧通过固定销与所述上壳体可旋转的连接。

优选地，所述定位孔设置2-8个。

本实用新型的有益效果是：本实用新型所述新型可调节测试插座盖在需要测试另外不同厚度的芯片时，将所述定位件从所述定位盘上的一个定位孔取出，并卡位在另一个定位孔内，所述刻度盘可从原定位孔位置被旋转到另一个定位孔位置，使限位杆的位置发生变化，所述旋钮部可旋转的幅度相应变化，此时旋转旋钮部至所述限位杆的止动位时，所述压板的高度发生改变并与当前芯片厚度匹配，从而实现一套测试插座盖应用于多个不同厚度的芯片测试。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1是本实用新型一个实施例的爆炸图；

图2是本实用新型一个实施例另一个角度的爆炸图。

图中标记：1-旋钮部，2-压圈，3-限位件，4-上壳体，5-卡固销，6-压板，7-锁定件，8-底座，9-刻度盘，10-固定销，11-卡扣，12-弹簧，13-凸起块，14-中空部，15-按钮件，16-定位件，17-固定座，18-定位孔。

具体实施方式

现在结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。