[发明专利]薄壁筒体零件的测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 201518006727.6 申请日: 2015-11-10
公开(公告)号: CN113348751B 公开(公告)日: 2018-08-03
发明(设计)人: 宋皓;梁金华;刘普林;郑凯;王玮;王娜;金路;季焓;朱兴;马琴樱 申请(专利权)人: 上海航天精密机械研究所
主分类号: G01B5/06 分类号: G01B5/06
代理公司: 上海航天局专利中心 31107 代理人: 冯和纯
地址: 201600*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 薄壁 零件 测量 装置 测量方法
【说明书】:

发明设计薄壁筒体零件的测量装置及测量方法,装置结构为:底架与U型底架固定连接;连接轴垂直固定在U型底架上;U型框固定连接在连接轴上;钟氏千分表与顶针销棒相对设置在U型框上;T型架倒置与滑块固定连接;柱块设置在T型架上;丝杠安装在底架上,进给距离控制部件与丝杠连接,滑块设置在所述丝杠上;钟氏千分表、顶针销棒、丝杠的中心线和柱块的中心线共面。测量时,装置置于测量平台上,柱块的最高点与顶针销棒的最高点调成同一高度,钟氏千分表在顶针销棒的最高点至零。本发明的薄壁筒体零件的测量装置及测量方法实现了薄壁筒体零件测量时的安装定位,并设计了测量基准,提高了测量的可靠性。

技术领域

本发明涉及测量技术,具体涉及一种薄壁筒体零件的测量装置及测量方法。

背景技术

测量筒体壁厚要求每隔20mm测量截面圆,在同一截面圆测量误差不得超过0.01mm,这对薄壁筒体零件的测量具有一定难度。现有测量条件,对于空间尺寸,无测量基准;当零件外形不规则时,用通常的夹具又无法将被测零件固定,即测量时被测零件无法安装定位;超声波测厚仪无法测量曲面,表类量具无法探入筒体内,常规测量方法无法满足工件检测需求,需要制定新的测量方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种薄壁筒体零件的测量装置及测量方法,实现了薄壁筒体零件测量时的安装定位,并设计了测量基准,提高了测量的可靠性。

为了达到上述的目的,本发明提供一种薄壁筒体零件的测量装置,包括底架、U型底架、连接轴、U型框、丝杠、滑块、T型架、进给距离控制部件、柱块、钟氏千分表和顶针销棒;所述底架与所述U型底架固定连接;所述连接轴垂直固定在所述U型底架上;所述U型框固定连接在所述连接轴上;所述钟氏千分表与所述顶针销棒相对设置在所述U型框上;所述T型架倒置与所述滑块固定连接;所述柱块设置在所述T型架上;所述丝杠安装在所述底架上,所述进给距离控制部件与所述丝杠连接,所述滑块设置在所述丝杠上,所述进给距离控制部件带动所述丝杠运动,从而带动所述滑块沿丝杠中心线长度方向移动,进而带动所述T型架沿丝杠中心线长度方向移动,并控制所述T型架按规定行程移动;所述钟氏千分表、所述顶针销棒、所述丝杠的中心线和所述柱块的中心线共面。

上述薄壁筒体零件的测量装置,其中,所述进给距离控制部件为带刻线尺的调整环,所述带刻线尺的调整环与所述丝杠连接。

上述薄壁筒体零件的测量装置,其中,所述进给距离控制部件为伺服电机,所述伺服电机与所述丝杠连接。

上述薄壁筒体零件的测量装置,其中,所述进给距离控制部件包括带刻线尺的调整环和伺服电机,所述带刻线尺的调整环与所述丝杠连接,所述伺服电机与所述带刻线尺的调整环连接。

上述薄壁筒体零件的测量装置,其中,所述薄壁筒体零件的测量装置还包括测量平台,所述底架与所述U型底架固定连接后置于该测量平台上,所述测量平台的平面度<0.005mm。

上述薄壁筒体零件的测量装置,其中,所述连接轴设有限位槽,所述U型框的底部插入该限位槽内,通过两个相互垂直方向上的紧固件将所述U型框定位。

上述薄壁筒体零件的测量装置,其中,根据被测筒体零件的内径大小选择所述柱块的直径的大小。

本发明提供的另一技术方案是,一种薄壁筒体零件的测量方法,采用上述薄壁筒体零件的测量装置,所述测量包括:1)薄壁筒体零件的测量装置置于测量平台上;2)用带表高度尺将柱块的最高点与顶针销棒的最高点调成同一高度;3)将U型框上的钟氏千分表在顶针销棒的最高点至零,作为测量基准;4)安装被测筒体零件;5)滚动被测筒体零件实现同一截面圆多个测点的测量;6)进给距离控制部件带动丝杠运动,使滑块沿丝杠中心线长度方向移动,进而带动被测筒体零件沿丝杠中心线长度方向移动,实现按规定行程测量不同截面圆。

上述薄壁筒体零件的测量方法,其中,被测筒体零件一端套在柱块上,另一端穿过U型框的开口端支撑在顶针销棒上。

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