[发明专利]用于测量集成相干光学接收机的测试和测量设备在审
申请号: | 201511036029.6 | 申请日: | 2015-11-20 |
公开(公告)号: | CN105763249A | 公开(公告)日: | 2016-07-13 |
发明(设计)人: | R·A·小马斯兰 | 申请(专利权)人: | 特克特朗尼克公司 |
主分类号: | H04B10/073 | 分类号: | H04B10/073 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张凌苗;张涛 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测量 集成 相干 光学 接收机 测试 设备 | ||
1.一种用于相对于被测设备(DUT)的信号输入的相位角调节本地振荡器的相位角的相位调节器,包括:
激光源,其构造为耦合到光波分量分析仪和由相位调节驱动器驱动的光学相位调节器;
适于耦合到至所述DUT的第一测试输入的所述光波分量分析仪的输出;
适于耦合到至所述DUT的振荡器输入的所述光学相位调节器的输出;以及
监控选择器,适于接受所述DUT的至少两个输出并被构造为将所述DUT的选择的输出传输至所述相位调节驱动器,其中,所述相位调节驱动器被构造为利用基于由所述监控选择器选择的所述DUT的输出的控制信号驱动所述光学相位调节器。
2.根据权利要求1所述的用于调节本地振荡器的相位角的相位调节器,其中,所述光学相位调节器包括光纤环路拉伸器。
3.根据权利要求1所述的用于调节本地振荡器的相位角的相位调节器,其中,从所述激光源通过所述光波分量分析仪到至所述DUT的所述第一测试输入的信号路径具有在从所述激光源到至所述DUT的所述振荡器输入的信号路径的长度的一米内的长度。
4.根据权利要求1所述的用于调节本地振荡器的相位角的相位调节器,其中,所述相位调节驱动器的控制信号引起所述光波分量分析仪的输出与所述光学相位调节器的输出的相位角差被可控地驱动到接近于零。
5.根据权利要求1所述的用于调节本地振荡器的相位角的相位调节器,其中,由所述监控选择器选择的所述DUT的输出也是至所述光波分量分析仪的选择的输入。
6.根据权利要求1所述的用于调节本地振荡器的相位角的相位调节器,其中,由所述监控选择器选择的所述DUT的输出与至所述光波分量分析仪的选择的输入不同。
7.一种用于相对于被测设备(DUT)的信号输入的相位角调节本地振荡器的相位角的方法,所述方法包括:
生成具有从激光器至所述DUT的信号输入的固定路径长度的第一激光信号;
生成具有从所述激光器至所述DUT的本地振荡器输入的可调节长度路径的第二激光信号,所述可调节长度路径包括光学相位调节器;
选择性地将所述DUT的输出耦合到用于光纤电缆的可控环路的相位控制器驱动器;以及
利用从所述DUT的选择的输出得到的控制信号驱动所述光学相位调节器。
8.根据权利要求7所述的用于调节本地振荡器的相位角的方法,其中,所述光学相位调节器是光纤电缆的可控环路,并且其中驱动所述光学相位调节器包括驱动压电环路拉伸器。
9.根据权利要求7所述的用于调节本地振荡器的相位角的方法,其中,固定长度路径的长度在所述可调节长度路径的一米内。
10.根据权利要求7所述的用于调节本地振荡器的相位角的方法,其中,驱动所述光学相位调节器引起所述第一激光信号与所述第二激光信号的相位角差被驱动到接近于零。
11.根据权利要求7所述的用于调节本地振荡器的相位角的方法,其中,驱动所述光学相位调节器引起所述第一激光信号与所述第二激光信号的相位角差被驱动到接近于π。
12.根据权利要求7所述的用于调节本地振荡器的相位角的方法,还包括:
对所述DUT的选择的输出执行测试。
13.根据权利要求7所述的用于调节本地振荡器的相位角的方法,还包括:
对所述DUT的不同于所述DUT的选择的输出的输出执行测试。
14.一种用于测试被测设备(DUT)的系统,包括:
激光源,耦合到光波分量分析仪和由相位调节驱动器驱动的光学相位调节器;
耦合到至所述DUT的第一测试输入的所述光波分量分析仪的输出;
耦合到至所述DUT的振荡器输入的所述相位调节驱动器的输出;以及
监控选择器,适于接受所述DUT的至少两个输出并被构造为将所述DUT的选择的输出传输至所述相位调节驱动器,其中,所述相位调节驱动器被构造为利用基于由所述监控选择器选择的所述DUT的输出的控制信号驱动所述光学相位调节器。
15.根据权利要求14所述的用于测试被测设备(DUT)的系统,其中,所述光学相位调节器包括用于拉伸光纤电缆的环路的环路拉伸器。
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