[发明专利]存储器单元失效检测方法与系统

权利要求书

1.一种存储器单元失效检测方法，其特征在于，包括步骤：

将当前存储器单元中每一位设为初始数码，并读出所述当前存储器单元中每一位的内容，若所述当前存储器单元中均为所述初始数码，则表明所述当前存储器单元未失效，若所述当前存储器单元中某位内容不为所述初始数码，则表明所述当前存储器单元已失效；

将所述当前存储器单元中每一位的内容从所述初始数码修改为变反数码；

检测其他存储器单元中每一位的内容是否发生改变，当发生改变时，表明所述当前存储器单元已失效，当未发生改变时，读出所述当前存储器单元中每一位的内容，所述其他存储器单元为所述当前存储器单元相邻的存储器单元；

检测所述当前存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改不准确时，表明所述当前存储器单元已经失效，当修改准确时，将所述当前存储器单元中每一位的内容由所述变反数码修改为初始数码，再次检测所述当前存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改不准确时，表明所述当前存储器单元已经失效，当修改准确时，表明所述当前存储器单元正常；

其中，所述初始数码和所述变反数码分别包括二进制中两个不同的数码。

2.根据权利要求1所述的存储器单元失效检测方法，其特征在于，所述将当前存储器单元中每一位设为初始数码，并读出所述当前存储器单元中每一位的内容的步骤具体包括：

以最低位升序的方式或者以最高位降序的方式将当前存储器单元中每一位设为初始数码，以最低位升序的方式读出所述当前存储器单元中每一位的内容。

3.根据权利要求2所述的存储器单元失效检测方法，其特征在于，所述将所述当前存储器单元中每一位的内容从所述初始数码修改为变反数码的步骤具体包括：

当所述当前存储器单元中每一位的内容为所述初始数码时，将所述当前存储器单元中每一位的内容从所述初始数码修改为变反数码。

4.根据权利要求3所述的存储器单元失效检测方法，其特征在于，所述检测其他存储器单元中每一位的内容是否发生改变，当发生改变时，表明所述当前存储器单元已失效，当未发生改变时，读出所述当前存储器单元中每一位的内容的步骤具体包括：

检测其他存储器单元中每一位的内容是否发生改变，当发生改变时，表明所述当前存储器单元已失效，当未发生改变时，重新以所述最低位升序的方式读出所述当前存储器单元中每一位的内容。

5.根据权利要求4所述的存储器单元失效检测方法，其特征在于，所述检测所述当前存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改不准确时，表明所述当前存储器单元已经失效，当修改准确时，将所述当前存储器单元中每一位的内容由所述变反数码修改为初始数码，再次检测所述当前存储器单元中每一位的内容是否修改准确，当修改不准确时，表明所述当前存储器单元已经失效，当修改准确时，表明所述当前存储器单元正常的步骤具体包括：

检测所述当前存储器单元中每一位的内容是否为所述变反数码，当不为所述变反数码时，表明所述当前存储器单元已失效，当为所述变反数码时，将所述当前存储器单元中每一位的内容从所述变反数码修改为所述初始数码；

检测所述其他存储器单元中每一位的内容是否发生改变，当发生改变时，表明所述当前存储器单元已失效，当未发生改变时，以所述最低位升序的方式或者以最高位降序的方式读出所述当前存储器单元中每一位的内容；

检测所述当前存储器单元中每一位的内容是否为所述初始数码，当不为所述初始数码时，表明所述当前存储器单元已失效，当为所述初始数码时，以最高位降序的方式读出所述当前存储器单元中每一位的内容，将所述当前存储器单元中每一位的内容从所述初始数码修改为变反数码，以所述最高位降序的方式读出所述当前存储器单元中每一位的内容；

检测所述当前存储器单元中每一位的内容是否为所述变反数码，当不为所述变反数码时，表明所述当前存储器单元已失效，当为所述变反数码时，将所述当前存储器单元中每一位的内容从所述变反数码修改为所述初始数码，以所述最低位升序的方式读出所述当前存储器单元中每一位的内容；

检测所述当前存储器单元中每一位的内容是否为所述初始数码，当不为所述初始数码时，表明所述当前存储器单元已失效，当为所述初始数码时，表明所述当前存储器单元正常。