[发明专利]一种倒装高压LED芯片及其制备方法在审
申请号: | 201511028363.7 | 申请日: | 2015-12-31 |
公开(公告)号: | CN106935607A | 公开(公告)日: | 2017-07-07 |
发明(设计)人: | 彭翔;赵汉民;梁伏波;金力;汤松龄 | 申请(专利权)人: | 晶能光电(江西)有限公司 |
主分类号: | H01L27/15 | 分类号: | H01L27/15;H01L33/38;H01L33/62;H01L33/00 |
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地址: | 330096 江西省*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 倒装 高压 led 芯片 及其 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及发光二极管技术,尤其涉及蓝宝石衬底LED倒装高压芯片技术。
背景技术
LED(发光二极管)由于其发光效率高,节能等优势已经成为目前最瞩目的光源,且市场的占有率越来越高。Led芯片主要包括三大块:传统正装芯片、垂直芯片及新兴的倒装芯片。
正装芯片里面新兴的高压芯片相对于低压芯片由于其小电流下使用且由于其单个单元面积小从而电流扩张好,而且能直接用高压驱动而节省应用端成本。倒装芯片由于其大电流驱动,散热好,免打线封装可靠性高等特点越来越受市场的重视。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种倒装高压LED芯片及其制备方法,其简化了封装工艺,提高芯片性能及可靠性,降低成本。
本发明提供的技术方案如下:
一种倒装高压LED芯片,包括蓝宝石衬底,形成于在所述蓝宝石衬底表面的InGaAlN多层结构;形成于所述InGaAlN多层结构表面的反射层及蚀刻出的第一沟槽;
包括形成于所述反射层表面的保护金属层及蚀刻出的第二沟槽;包括在第二沟槽内蚀刻InGaAlN多层结构及所形成的第三沟槽;
包括在预设位置的第三沟槽蚀刻InGaAlN多层结构所形成的第四沟槽,蚀刻第四沟槽后形成M个芯片单元,M大于等于2;
包括形成于整个芯片表面及所述第一沟槽、第二沟槽、第三沟槽和第四沟槽侧壁的第一钝化层;
包括蚀刻保护金属层上第一钝化层从而沉积金属层形成P电极,蚀刻N电极孔第一钝化层并在N电极孔内沉积金属并将多个N电极孔 连接起来形成的N电极,把相邻两个单元之间的N电极和P电极连接起来,第一个单元P电极独立,最后一个单元N电极独立;
包括在整个芯片上再沉积形成第二钝化层,把第一个单元P电极上第二钝化层蚀刻一个区域出来沉积金属层形成P焊垫,把最后一个单元N电极上的第二钝化层蚀刻出一个区域沉积金属层形成N焊垫。
优选地,所述反射层的材料为下列金属或者金属组合中的一种:Ag、NiAg、NIAgNi、NIAgNiAg、Al、Pt、Rh。
优选地,所述反射层的材料结构为ITO/Ag、ITO/Al、ITO/Pt。
优选地,所述P和N焊垫可为Au电极。
优选地,所述P和N焊垫可为共晶金属,如:AuSn合金。
优选地,所述P和N焊垫可为合金金属,如:Sn63合金、Sn62合金、Sn60合金、Sn63/Pb37合金。
优选地,所述P和N焊垫覆盖有锡膏层。
优选地,所述第一钝化层覆盖芯片侧壁及沉底。
优选地,所述第二钝化层在芯片侧壁及周边覆盖第一钝化层。
本发明还提供了一种倒装高压LED芯片的制备方法,其特征在于,制作步骤如下:
步骤1、在蓝宝石沉底上生长InGaAlN多层结构,生长顺序为:N型GaN层、有源层和P型GaN层;
步骤2、在P型GaN层上制作反射层金属,蚀刻形成第一沟槽;
步骤3、在芯片表面制作保护金属层,蚀刻形成第二沟槽;
步骤4、蚀刻InGaAlN多层结构至N型GaN层,形成第三沟槽做N电极孔;
步骤5、蚀刻在预设位置第三沟槽内蚀刻InGaAlN多层结构,一直蚀刻至蓝宝石衬底层并露出衬底,形成第四沟槽,蚀刻第四沟槽后形成M个芯片单元,M大于等于2;
步骤6、沉积第一钝化层,第一钝化层包覆整个芯片表面以及第三、第四沟槽侧壁。蚀刻保护金属层上第一钝化层从而沉积金属层形成P电极,蚀刻第三沟槽N电极孔第一钝化层并在N电极孔内沉积金 属并将多个N电极孔连接起来形成的N电极,并且把相邻两个单元N电极与P电极连起来。
步骤7、在整个芯片上再沉积形成第二钝化层,把第一个单元P电极上第二钝化层蚀刻一个区域出来沉积金属层形成P焊垫,把第M个单元N电极上的第二钝化层蚀刻出一个区域沉积金属层形成N焊垫。
相对于现有技术,本发明提供的倒装LED芯片及其制备方法能够带来以下有益效果:
本发明的技术方案中,多个芯片通过P、N电极相连形成高压芯片,且芯片在封装时可以直接用P、N焊垫直接焊接在基板上,免去了普通芯片的打线问题,简化了封装工艺,提高了可靠性;同时由于P、N焊垫直接焊接在基板上提高了产品的导电性能和散热性能,进一步提高产品的可靠性。
进一步,由于是高压芯片,可以直接用高压驱动从而节省成本。
附图说明
图1为本发明一个实施例的结构示意图。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的