[发明专利]原料钾矿碘化钠晶体测钾仪

权利要求书

1.一种原料钾矿碘化钠晶体测钾仪，包括：

探测器，所述探测器用于在线或即时取样探测⁴⁰K衰变时放射的1.46MeV的 γ射线，以生成脉冲信号；

信号分析系统，所述信号分析系统用于将所述脉冲信号进行分析，并产生 能谱信息；

数据处理系统，所述数据处理系统采集所述能谱信息，绘制成能谱曲线并 将其与所述数据处理系统内置的标准曲线进行对比，计算并显示钾离子的含量； 所述标准曲线为所述原料钾矿碘化钠晶体测钾仪的脉冲计数率与钾样品中钾离 子的含量的关系曲线；其特征在于，

所述探测器包括：

闪烁体，所述闪烁体用于与射入其内的γ射线发生光电效应后产生光子；

光电倍增管，所述光电倍增管用于接收所述光子，并将所述光子转换为所 述脉冲信号；

前置放大器，所述前置放大器用于放大所述脉冲信号；

光学组件，所述光学组件设置于所述闪烁体的侧壁上，以对所述光子进行 反射直至所述光子传递至所述光子聚集件处；

以及光子聚集件，所述光子聚集件设置于所述闪烁体的与所述光电倍增管 相对的表面上，以将经所述闪烁体发射的以及经所述光学组件反射的所述光子 进行汇集并传递至所述光电倍增管的光阴极处。

2.根据权利要求1所述的原料钾矿碘化钠晶体测钾仪，其特征在于，所述 光学组件包括依次叠成设置在所述闪烁体的侧壁上的反射膜以及遮光膜。

3.根据权利要求2所述的原料钾矿碘化钠晶体测钾仪，其特征在于，所述 光子聚集件的材料为光学硅油。

4.根据权利要求1所述的原料钾矿碘化钠晶体测钾仪，其特征在于，所述 闪烁体的材料为直径130mm、高度130mm的NaI：Tl晶体。

5.根据权利要求4所述的原料钾矿碘化钠晶体测钾仪，其特征在于，所述 光电倍增管的直径为130mm。

6.根据权利要求1-5任一所述的原料钾矿碘化钠晶体测钾仪，其特征在于， 所述原料钾矿碘化钠晶体测钾仪还包括：屏蔽室；所述屏蔽室套设于所述闪烁 体外。

7.根据权利要求6所述的原料钾矿碘化钠晶体测钾仪，其特征在于，所述 屏蔽室的材料为厚度不少于2cm的铅板。

8.根据权利要求1所述的原料钾矿碘化钠晶体测钾仪，其特征在于，所述 信号分析系统包括线性放大器和多道脉冲幅度分析器；所述线性放大器用于将 所述脉冲信号进行放大，所述多道脉冲幅度分析器用于对经所述线性放大器放 大的脉冲信号进行甄别，并产生1024道的能谱信息；

所述数据处理系统包括数据采集模块、数据处理模块和数据显示模块；所 述数据采集模块用于采集所述能谱信息，并将所述能谱信息输送到所述数据处 理模块；所述数据处理模块将所述能谱信息绘制成所述能谱曲线，并将所述能 谱曲线与所述数据处理系统内置的标准曲线进行对比，计算求得钾离子的含量； 所述数据显示模块用于显示所述钾离子的含量。

9.根据权利要求8所述的原料钾矿碘化钠晶体测钾仪，其特征在于，所述 多道脉冲幅度分析器通过RS-485接口与所述数据处理系统进行通讯。

10.根据权利要求1所述的原料钾矿碘化钠晶体测钾仪，其特征在于，所述 标准曲线根据测定若干已知钾离子的含量的标准样品来确定；所述标准曲线的 斜率计算公式表示为：

K＝(N_T-N_B)/C

其中，N_T表示所述原料钾矿碘化钠晶体测钾仪中750道至850道之间的标准 样品的脉冲计数率，N_B表示所述原料钾矿碘化钠晶体测钾仪中750道至850道之 间的本底样品的脉冲计数率，C表示标准样品中钾离子的含量。