[发明专利]一种高精度欠采样测频方法

权利要求书

1.一种高精度欠采样测频方法，其特征在于包括如下步骤：

(1)选取M个AD电路，并将M个AD电路的采样频率分别记为f1，f2，f3，…，fM，其中，M≥2；

(2)将频率为fin的待采样信号按照fin_i＝fin-n*fset/N的方式划分为N个信道分配信号，第i个信道分配信号的频率为fin_i，其中，n＝0，1，2，…，N-1，i＝1，2，3，…，N，N为正整数，fset的取值范围为[0，lcm(f1,f2,…,fM)]，lcm表示最小公倍数；

(3)对第i个信道分配信号进行相位控制，令第i个信道分配信号初始相位为θi，其中，i为正整数且i的初值为1；

(4)使用M个AD电路对第i个信道分配信号进行采样得到采样数据，并记为D_i1、D_i2、D_i3，…，D_iM，对采样数据D_i1、D_i2、D_i3，…，D_iM进行傅里叶变换得到傅里叶变换幅度谱、傅里叶变换相位谱，进而得到采样数据D_i1，D_i2，D_i3，…，D_iM的频率集合f_i1，f_i2，f_i3，…，f_iM，初始相位集合θ_i1，θ_i2，θ_i3，…，θ_iM，其中，f_i1，f_i2，f_i3，…，f_iM和θ_i1，θ_i2，θ_i3，…，θ_iM均为二维数组；

(5)对频率集合f_i1，f_i2，f_i3，…，f_iM和初始相位集合θ_i1，θ_i2，θ_i3，…，θ_iM分别使用内插法进行校正得到校正频率集合f’_i1，f’_i2，f’_i3，…，f’_iM和校正初始相位集合θ’_i1，θ’_i2，θ’_i3，…，θ’_iM；

(6)使用信道初始输入相位θi依次筛选校正初始相位集合θ’_i1，θ’_i2，θ’_i3，…，θ’_iM，得到校正初始相位集合中每个校正初始相位的二维数组中与θi最接近的1个校正初始相位数值，进而得到校正频率集合中M个校正初始相位数值分别对应的频率得到采样数据D_i1，D_i2，D_i3，…，D_iM的频率集合分别为其中，k，m，p，l均为自然数；

(7)在频率集合中的每个频率集中寻找与其他频率集中频率相同或最接近的1个频率，进而得到M个频率，并分别记为进而得到第i个信道频率fin_i为

其中，包括M个频率集；

(8)i＝i+1，重复步骤(3)至步骤(7)直至i＝N，得到N个信道的信道频率fin_i；

(9)分别获取第i个信道的信道信噪比SNR_i，进而得到待采样信号的频率fin为

2.根据权利要求1所述的一种高精度欠采样测频方法，其特征在于：所述的θi为0°。

3.根据权利要求1或2所述的一种高精度欠采样测频方法，其特征在于：所述的M＝3。