[发明专利]基于测试框架系统的测试方法、装置和测试框架系统

说明书

技术领域

本发明涉及软件测试领域，特别涉及一种基于测试框架系统的测试方法、装置和测试框架系统。

背景技术

目前，在芯片测试领域，相关的板级测试都是针对单一测试环境编写的，即测试框架是针对单一目标测试环境的，如果用户需要对芯片进行多种测试环境的测试，在测试完该测试环境后，为了对芯片进行其他测试环境的测试，用户需要重新编写对应的测试环境的代码或者使用基于对应的测试环境的测试框架进行测试，以完成芯片的各种测试环境的测试。由此可以看出，在对芯片进行多种测试环境下的测试时，测试过程复杂，用户需要执行的操作较多，测试多种测试环境极为不便，用户的测试体验不理想。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

为此，本发明的一个目的在于提出一种基于测试框架系统的测试方法，该方法为用户提供了多种测试环境，使得用户可根据需求自由选择测试环境，方便了用户在同一个测试框架下完成在多种测试环境下的测试，方便了测试人员进行测试，提高了测试效率。

本发明的第二目的在于提出一种基于测试框架系统的测试装置。

本发明的第三目的在于提出一种测试框架系统。

为实现上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种测试框架系统的测试方法，包括以下步骤：为用户提供多种测试环境，根据所述用户的操作确定目标测试环境；接收所述用户编写的测试代码；基于所述目标测试环境对所述测试代码进行编译，并生成与所述目标测试环境相关的测试文件；在所述目标测试环境中运行所述测试文件，并生成测试结果；以及为所述用户提供测试结果。

根据本发明实施例的基于测试框架系统的测试方法，首先为用户提供多种测试环境，根据用户的操作确定目标测试环境，然后接收用户编写的测试代码，并基于目标测试环境对测试代码进行编译，以及生成与目标测试环境相关的测试文件，而后在目标测试环境中运行测试文件，并生成测试结果，最后为用户提供测试结果。由此，为用户提供了多种测 试环境，使得用户可根据需求自由选择测试环境，方便了用户在同一个测试框架下完成在多种测试环境下的测试，方便了测试人员进行测试，提高了测试效率。

另外，根据本发明上述基于测试框架系统的测试方法还可以具有如下附加的技术特征：

在本发明的一个实施例中，所述为用户提供多种测试环境，根据所述用户的操作确定目标测试环境，包括：提供第一图形化配置界面，其中，所述第一图形化配置界面中包含多种测试环境；接收所述用户在所述第一图形化配置界面中输入的选择指令；将所述用户选择的测试环境作为所述目标测试环境。

在本发明的一个实施例中，所述为用户提供多种测试环境，根据所述用户的操作确定目标测试环境，包括：提供第二图形化配置界面，其中，所述第二图形化配置界面包括初始测试环境；当监控到用户未选择所述第二图形化配置界面中的所述初始测试环境时，提供第三图形化配置界面；接收所述用户在第三图形化配置界面中配置的测试环境参数信息；根据所述测试环境参数信息确定所述目标测试环境。

在本发明的一个实施例中，所述基于所述目标测试环境对所述测试代码进行编译，并生成与所述目标测试环境相关的测试文件，包括：接收所述用户输入的编译指令；根据所述编译指令对所述测试代码进行编译；判断所述测试代码是否通过编译；如果所述测试代码通过编译，则生成与所述目标测试环境相匹配的测试文件。

在本发明的一个实施例中，所述在所述目标测试环境中运行所述测试文件，并生成测试结果，包括：接收所述用户执行所述测试文件的指令，并在所述目标测试环境下运行所述测试文件，以及生成测试结果。

在本发明的一个实施例中，上述基于测试框架系统的测试方法还包括：如果所述测试代码未通过编译，则为所述用户提供提示信息，以使所述用户根据所述提示信息修改所述测试代码。

在本发明的一个实施例中，所述目标测试环境包括编译型模拟器VCS仿真测试环境、硬件加速器环境、现场可编程门阵列FPGA环境、模拟器环境和真实系统晶片SOC环境。

为实现上述目的，本发明第二方面实施例提出了一种基于测试框架系统的测试装置，包括：确定模块，用于为用户提供多种测试环境，根据所述用户的操作确定目标测试环境；接收模块，用于接收所述用户编写的测试代码；生成模块，用于基于所述目标测试环境对所述测试代码进行编译，并生成与所述目标测试环境相关的测试文件；测试模块，用于在所述目标测试环境中运行所述测试文件，并生成测试结果；以及提供模块，用于为所述用户提供测试结果。