[发明专利]电能表中分流器的计量控制系统有效

专利信息
申请号: 201511004458.5 申请日: 2015-12-28
公开(公告)号: CN106918738B 公开(公告)日: 2020-08-25
发明(设计)人: 石飞;袁文师;王甲 申请(专利权)人: 上海贝岭股份有限公司
主分类号: G01R22/06 分类号: G01R22/06;G01R31/54
代理公司: 上海弼兴律师事务所 31283 代理人: 薛琦;罗朗
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 电能表 分流器 计量 控制系统
【权利要求书】:

1.一种电能表中分流器的计量控制系统,所述分流器包括供电线、正极采样线及负极采样线,所述供电线与市电的火线电连接,市电的零线通过变压器的一个输入端与所述供电线电连接,所述变压器的另一个输入端接地,所述变压器的输出端与所述分流器的计量芯片电连接,所述计量芯片与所述正极采样线及所述负极采样线电连接,其特征在于,

所述计量控制系统包括故障检测电路及故障处理电路,所述故障检测电路包括第一故障检测电阻、第二故障检测电阻、故障电压采样电路以及故障电压测量电路,所述第一故障检测电阻分别与所述负极采样线及接地端电连接,所述第二故障检测电阻分别与所述正极采样线及接地端电连接;

所述故障电压采样电路与所述故障电压测量电路电连接,所述故障电压采样电路用于获取所述第一故障检测电阻的电压值,所述故障电压测量电路用于判断所述电压值是否大于第一阈值,若是,则确定所述供电线与市电的火线断开连接;

所述故障处理电路包括第一故障处理电阻、第一MOS开关、第二故障处理电阻、第二MOS开关以及MCU,所述第一故障处理电阻分别与所述负极采样线及所述第一MOS开关的漏极电连接,所述第二故障处理电阻分别与所述正极采样线及所述第二MOS开关的漏极电连接,所述第一MOS开关及所述第二MOS开关的源极均接地、栅极均与所述MCU电连接;

当所述故障电压测量电路确定所述供电线与市电的火线断开连接时,所述MCU控制所述第一MOS开关及所述第二MOS开关导通,以使得所述第一故障处理电阻与所述第一故障检测电阻并联、所述第二故障处理电阻与所述第二故障检测电阻并联,并使得所述第一故障检测电阻的电压值降低至所述计量芯片允许的共模输入电压范围内。

2.如权利要求1所述的计量控制系统,其特征在于,所述计量控制系统还包括电流通道增益补偿模块,所述电流通道增益补偿模块用于计算所述计量芯片的电流通道增益,并将计算结果写入所述计量芯片的电流通道增益寄存器中。

3.如权利要求2所述的计量控制系统,其特征在于,所述计量控制系统还包括功率偏置补偿模块,所述功率偏置补偿模块用于将电能表置于故障状态,清除潜动阈值,在只加额定电压不加电流的情况下,读取计量芯片测量到的有功功率值,并将有功功率值转换为功率偏置寄存器值,将功率偏置寄存器值与电能表正常工作时的功率偏置寄存器值相加后的结果写入计量芯片的功率偏置寄存器中。

4.如权利要求1所述的计量控制系统,其特征在于,所述故障电压测量电路还用于在判断所述电压值小于第二阈值时,确定所述供电线与市电的火线连接正常,所述MCU还控制所述第一MOS开关及所述第二MOS开关断开。

5.如权利要求1所述的计量控制系统,其特征在于,所述故障电压采样电路包括依次电连接的缓冲放大器、模数转换器、平方运算电路、基波滤波器、均方根运算电路,所述缓冲放大器与所述计量芯片的共模采样输入端电连接。

6.如权利要求1所述的计量控制系统,其特征在于,所述第一故障检测电阻与所述第二故障检测电阻的阻值相同,和/或,所述第一故障处理电阻与所述第二故障处理电阻的阻值相同。

7.如权利要求6所述的计量控制系统,其特征在于,所述第一故障检测电阻和所述第二故障检测电阻的阻值为所述第一故障处理电阻和所述第二故障处理电阻的阻值的十倍以上。

8.如权利要求1所述的计量控制系统,其特征在于,所述第一故障检测电阻和所述第二故障检测电阻的阻值为所述分流器的电阻值的十万倍以上。

9.如权利要求1所述的计量控制系统,其特征在于,所述第一故障检测电阻和所述第二故障检测电阻的阻值的取值范围为30-100Ω,和/或,所述第一故障处理电阻和所述第二故障处理电阻的阻值的取值范围为1-8Ω。

10.如权利要求1-9中任意一项所述的计量控制系统,其特征在于,所述电能表为单相电能表。

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