[发明专利]像素阵列及像素单元的修补方法有效
| 申请号: | 201511003210.7 | 申请日: | 2015-12-28 |
| 公开(公告)号: | CN105425435B | 公开(公告)日: | 2018-11-09 |
| 发明(设计)人: | 林禹佐;林庭谊;简伯儒;吴贞仪 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;H01L27/12 |
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;尚群 |
| 地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 像素 阵列 单元 修补 方法 | ||
一种像素阵列及像素单元的修补方法。像素阵列包括多个像素单元,其中每一个像素单元包括第一子像素以及第二子像素。第一子像素包括第一主动元件以及与第一主动元件的漏极电性连接的第一像素电极。第二子像素包括第二主动元件以及与第二主动元件的漏极电性连接的第二像素电极,其中第一像素电极与第二主动元件的漏极具有交叠处且形成第一电容。本发明还提供了一种像素单元的修补方法。
技术领域
本发明涉及一种像素阵列及像素单元的修补方法,特别是一种利于进行暗点化的像素阵列及像素单元的修补方法。
背景技术
近年来,虽然平面显示器技术已趋成熟,但显示面板的组成元件,如主动元件阵列基板,在制造过程之中难免会产生一些点瑕疵(dot defect)。一般来说,若能通过修补方式将上述的点瑕疵修补成暗点,就可以不需要报废丢弃这些有瑕疵的显示面板。
现行的像素单元的修补方式通常是采用激光熔接(laser welding)及激光切割(laser cutting)的搭配来进行,以将像素电极连接至共用电位,进而达到暗点化效果。然而,由于显示面板的结构趋于复杂,因此像素电极在修补后仍有可能未确实地连接至共用电位,而使得暗点化失败。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种像素阵列,其结构有利于对瑕疵像素进行暗点化。
本发明另一目的是提供一种像素阵列,其具有经暗点化的瑕疵像素。
本发明还一目的是提供一种像素单元的修补方法,其可达到将瑕疵像素确实暗点化的目的。
为了实现上述目的,本发明提供了一种像素阵列,包括多个像素单元,其中每一个像素单元包括第一子像素以及第二子像素。第一子像素包括第一主动元件以及与第一主动元件的漏极电性连接的第一像素电极。第二子像素包括第二主动元件以及与第二主动元件的漏极电性连接的第二像素电极,其中第一像素电极与第二主动元件的漏极具有交叠处且形成第一电容。
为了更好地实现上述目的,本发明还提供了一种像素阵列,包括多个像素单元,其中每一个像素单元包括第一子像素、第二子像素、第一电极以及第二电极。第一子像素包括第一主动元件以及与第一主动元件的漏极电性连接的第一像素电极。第二子像素包括第二主动元件以及与第二主动元件的漏极电性连接的第二像素电极,其中第一像素电极与第二主动元件的漏极的交叠处具有第一熔接点。第一像素电极与第二像素电极经由第一熔接点与共同电位电性连接。
为了更好地实现上述目的,本发明还提供了一种像素单元的修补方法包括以下步骤:提供像素单元,其包括第一子像素、第二子像素、第一电极以及第二电极。第一子像素包括第一主动元件以及与第一主动元件的漏极电性连接的第一像素电极。第二子像素包括第二主动元件以及与第二主动元件的漏极电性连接的第二像素电极,其中第一像素电极与第二主动元件的漏极具有第一交叠处。进行激光切割工艺,切割提供信号至第一主动元件与第二主动元件的信号线。进行激光熔接工艺,以于第一交叠处形成第一熔接点,其中第一像素电极与第二像素电极经由第一熔接点与共同电位电性连接。
本发明的技术效果在于:
在本发明之像素阵列的第一与第二子像素中,第一像素电极与第二主动元件的漏极具有交叠处且形成电容。当像素单元中的第一或第二子像素发生瑕疵时,第二子像素可以经由第一子像素与熔接点而电性连接至共同电位,即可达到将像素单元暗点化的目的。因此,本发明的像素阵列的设计有利于对像素单元进行修补,使得采用此像素阵列的显示面板具有良好的显示品质。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述,但不作为对本发明的限定。
附图说明
图1A为本发明一实施例的像素阵列的示意图;
图1B为图1A像素单元的局部放大示意图;
图1C为图1B的像素单元的等效电路示意图;
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