[发明专利]基于时间维度和同类比较维度的学习能力判定方法和系统在审

专利信息
申请号: 201510999753.2 申请日: 2015-12-25
公开(公告)号: CN105654402A 公开(公告)日: 2016-06-08
发明(设计)人: 李超;邢春晓;张勇;胡镇峰;武永基;常少英 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G06Q50/20 分类号: G06Q50/20
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李相雨
地址: 100084 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 时间 维度 同类 比较 学习 能力 判定 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明属于教学评价领域,具体涉及学习一种基于时间维度和同类比较维度的学 习能力判定方法和系统。

背景技术

教育测评一直是教育研究的重要课题,采用科学、客观的方法,对学生学习能力进 行测评是教育测评研究工作的重要方面。目前教育机构对学生学习能力进行综合判定的模 型、方法已有很多,可以看到这些方法都是采用数理统计方法,建立相关数学模型,来对学 生的学习能力、素质进行评定分析,并且这些方法能够从某一角度、某一方面对学生的学习 能力进行判定。

但是,学生学习是一个循序渐进的过程,通过学生某次测试,对学生进行判定得到 的结果难免会片面化、公式化,得到的结果往往难以全面覆盖学生的真实能力情况。目前教 育机构采用的判定模型和方法多数没有能够结合时间维度、或者对同类进行比较,来进行 综合判定。

发明内容

本发明要解决的技术问题是如何结合本次考试之前的考试和时间对学生的学习 能力进行评价。

针对以上技术问题,本发明提供了一种基于时间维度和同类比较维度的学习能力 判定方法,包括:

S1:获取第N次考试中,具有第一知识点的每一试题的得分、总分和难度系数;

S2:计算所述每一试题的得分与总分的第一比值,以及所述第一比值与所述难度 系数的第二比值;

S3:计算第N-1次考试第一知识点得分率与所有第二比值之和作为第N次考试的第 一知识点得分率;

S4:计算第N-1次考试的第一知识点理想得分率和所述每一试题的难度系数的倒 数之和作为第N次考试的第一知识点理想得分率;

S5:计算所述第N次考试的第一知识点得分率和所述第N次考试的第一知识点理想 得分率之间的比值,以作为第N次考试的第一知识点的判定结果;

其中,N为大于等于1的自然数。

优选地,所述步骤S3,包括:

S31:计算所述第N-1次考试的第一知识点得分率与第N次考试的修正因子之积,以 作为第N-1次考试的第一知识点修正得分率,其中,第N-1次考试距所述第N次考试的时间越 长,所述第N次考试的修正因子的值越小;

S32:将所述第N-1次考试的第一知识点修正得分率与所有第二比值之和,作为第N 次考试的第一知识点得分率。

优选地,所述步骤S4,包括:

S41:获取所述第N-1次考试的第一知识点理想得分率与所述第N次考试的修正因 子之积,以作为第N-1次考试的第一知识点修正理想得分率;

S42:将所述第N-1次考试的第一知识点修正理想得分率与所述每一试题的难度系 数的倒数之和作为第N次考试第一知识点理想得分率。

优选地,所述第N次修正因子的计算公式如下:

Mn=mTn-Tn-1]]>

其中,Mn是第N次修正因子,m为预设因子,Tn是第N次考试的时间,Tn-1是第N-1次考 试的时间。

优选地,包括:

S6:计算所述第N次考试中所有知识点的判定结果的期望作为第N次考试的判定结 果。

另一方面,本发明提供了一种基于时间维度和同类比较维度的学习能力判定系 统,包括:

第一获取模块,用于获取第N次考试中,具有第一知识点的每一试题的得分、总分 和难度系数;

第一计算模块,用于计算所述每一试题的得分与总分的第一比值,以及所述第一 比值与所述难度系数的第二比值;

第二计算模块,用于计算第N-1次考试第一知识点得分率与所有第二比值之和作 为第N次考试的第一知识点得分率;

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