[发明专利]放射线检测元件和放射线成像装置

说明书

本发明涉及放射线检测元件和放射线成像装置。即使当照射了放射线的区域被设置得窄时，本发明提供的放射线检测元件和放射线成像装置也可以可靠地检测到放射线的照射。即，本发明提供了这样一种放射线检测元件和放射线成像装置，其中，放射线成像像素和放射线检测像素被设置在扫描线和信号线的交叉部。

本申请是原案申请号为201110179872.5的发明专利申请(申请日：2011年6月29日，发明名称：放射线检测元件和放射线成像装置)的分案申请。

技术领域

本发明涉及放射线检测元件和放射线成像装置。本发明特别涉及具有按矩阵形式排列的多个像素的放射线检测元件，其中，由于放射线的照射生成的电荷被积蓄，检测所积蓄的电荷的量作为图像信息，并且本发明涉及使用该放射线检测元件来对放射线图像进行成像的放射线成像装置。

背景技术

近年来，使用诸如平板检测器(FPD)的放射线检测元件的放射线成像装置已经投入实际使用，该平板检测器包括置于薄膜晶体管(TFT)有源矩阵基板上的放射线敏感层并且可以将诸如X放射线的放射线直接转换成数字数据。FPD的优点在于，与常规的成像板相比，可以即时检查图像，并且还可以检查运动的图像，并且FPD正在被快速普及。

提出了这种放射线检测元件的各种类型。例如，存在直接转换型放射线成像装置，其在半导体层中将放射线直接转换成电荷并积蓄这些电荷。还存在间接转换型放射线成像装置，其首先利用闪烁体(诸如CsI：Tl、GOS(Gd2O2S:Tb))等将放射线转换成光，接着在半导体层中将所转换的光转换成电荷并积蓄这些电荷。

在放射线检测元件中，即使在像素不被放射线照射时，也因为暗电流等而生成电荷，并且这些电荷积蓄在这些像素中。因此，在利用放射线检测元件的放射线成像装置中，在待机期间，反复执行提取并去除在像素中积蓄的电荷的复位操作。而且，在利用放射线检测元件的放射线成像装置中，在进行成像时，停止复位操作，并且在像素被放射线照射的照射时段期间积蓄电荷。而且，在照射时段结束后，利用放射线检测元件的放射线成像装置执行放射线检测元件的像素中已经积蓄的电荷的读出。

作为使放射线照射的时刻与放射线检测元件开始积蓄电荷的时刻同步的技术，日本特开(JP-A)No.2002-181942和JP-A No.2007-151761公开了在放射线检测元件的成像区外部单独地设置能够检测放射线的传感器。在这些技术中，当传感器检测到放射线时，放射线检测元件开始积蓄电荷。

这里，在进行放射线成像时，将放射线照射的区域设置得尽可能地窄，以便防止将受检查者和放射技师不必要地暴露于放射线。即，被放射线照射的区域被设置为使得仅要成像部分被放射线照射。

因此，在JP-A No.2002-181942和JP-A No.2007-151761描述的技术中，因为放射线照射的区域被设置得窄，所以存在传感器不能检测到放射线照射的情况。

发明内容

本发明提供了一种即使当放射线照射的区域被设置得窄时也可以可靠地检测放射线的放射线检测元件和放射线成像装置。

本发明的第一方面提供了一种放射线检测元件，该放射线检测元件包括：多条扫描线，它们彼此平行地设置；多条信号线，它们彼此平行设置，并且与所述多个条扫描线交叉；以及多个像素，它们设置在所述多条扫描线和所述多条信号线的交叉部，所述多个像素包括：多个放射线成像像素，每一个放射线成像像素均包括传感器部和开关元件，所述传感器部基于放射线的照射或基于已从放射线转换成的光的照射而生成电荷，并且所述开关元件根据流过所述扫描线的控制信号的状态而接通和断开，其中，所述传感器部通过所述开关元件电连接至所述信号线，并且与所述传感器部中生成的电荷相对应的电信号根据所述控制信号的状态流过所述信号线；以及多个放射线检测像素，每一个放射线检测像素均包括电连接至所述信号线的所述传感器部，其中，与所述传感器部中生成的电荷相对应的电信号与所述控制信号的状态无关地流过所述信号线。