[发明专利]一种用于PCF有效面积测量的光纤远场球面扫描装置及方法在审
| 申请号： | 201510980916.2 | 申请日： | 2015-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN105547646A | 公开（公告）日： | 2016-05-04 |
| 发明（设计）人： | 韩正英;刘志明;高业胜;郑光金;赵耀;尚福洲 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 孙营营 |
| 地址： | 266555 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 pcf 有效面积 测量 光纤 球面 扫描 装置 方法 | ||
1.一种用于PCF有效面积测量的光纤远场球面扫描装置，其特征在于，包 括：光纤准直系统、聚焦显微镜系统、光电探测器及电控位移平台；其中，
待测的光子晶体光纤由光纤准直系统进行调节，确保待测光纤出射端面位于 电控位移台的共轭点上，并由显微镜聚焦系统来观测光纤端面的切割状况；安装 在电控位移台上的光电探测器实时接收不同方位角下光纤端面出射光的远场光 场分布，计算得到被测光子晶体光纤的有效面积参数。
2.如权利要求1所述的用于PCF有效面积测量的光纤远场球面扫描装置， 其特征在于，所述电控位移平台由精密电控旋转台、精密电控倾斜台和光电编码 器组合而成，安装在电控位移台上的光电探测器围绕光纤出射端面做圆弧形运 动，采集出射光远场区域二维空间方向上的光强分布。
3.如权利要求2所述的用于PCF有效面积测量的光纤远场球面扫描装置， 其特征在于，所述光电编码器配套数显表实时计算方位角，每对应一个方位角得到关于角度的远场光强分布函数根据PCF有效面积的定义计算出 待测PCF的有效面积。
4.如权利要求2所述的用于PCF有效面积测量的光纤远场球面扫描装置， 其特征在于，所述精密电控旋转台和精密电控倾斜台组成的二维电控位移台，当 精密电控旋转台旋转θ1时，精密电控倾斜台围绕光纤做圆周运动采集不同倾斜角 下的光强数值，得到光强I关于倾斜角的函数关系式再控 制精密电控旋转台旋转θ2，得到以此类推，得到不同二维角度下光纤的远场光强
5.一种用于PCF有效面积测量的光纤远场球面扫描方法，其特征在于，包 括：光纤准直系统、聚焦显微镜系统、光电探测器及电控位移平台；其中，
待测的光子晶体光纤由光纤准直系统进行调节，确保待测光纤出射端面位于 电控位移台的共轭点上，并由显微镜聚焦系统来观测光纤端面的切割状况；安装 在电控位移台上的光电探测器实时接收不同方位角下光纤端面出射光的远场光 场分布，计算得到被测光子晶体光纤的有效面积参数。
6.如权利要求5所述的用于PCF有效面积测量的光纤远场球面扫描方法， 其特征在于，所述电控位移平台由精密电控旋转台、精密电控倾斜台和光电编码 器组合而成，安装在电控位移台上的光电探测器围绕光纤出射端面做圆弧形运 动，采集出射光远场区域二维空间方向上的光强分布。
7.如权利要求6所述的用于PCF有效面积测量的光纤远场球面扫描方法， 其特征在于，所述光电编码器配套数显表实时计算方位角，每对应一个得 到关于角度的远场光强分布函数根据PCF有效面积的定义计算出待测 PCF的有效面积。
8.如权利要求6所述的用于PCF有效面积测量的光纤远场球面扫描方法， 其特征在于，所述精密电控旋转台和精密电控倾斜台组成的二维电控位移台，当 精密电控旋转台旋转θ1时，精密电控倾斜台围绕光纤做圆周运动采集不同倾斜角 下的光强数值，得到光强I关于倾斜角的函数关系式再控 制精密电控旋转台旋转θ2，得到以此类推，得到不同二维角度下光纤的远场光强
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