[发明专利]一种摄像模组影像不良的现场快速分析处理方法在审

专利信息
申请号: 201510980112.2 申请日: 2015-12-24
公开(公告)号: CN105700289A 公开(公告)日: 2016-06-22
发明(设计)人: 黄河 申请(专利权)人: 深圳市凯木金科技有限公司
主分类号: G03B43/00 分类号: G03B43/00
代理公司: 重庆百润洪知识产权代理有限公司 50219 代理人: 刘立春
地址: 518102 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 摄像 模组 影像 不良 现场 快速 分析 处理 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种影像模组,特别是一种摄像模组影像不良的现场快速分析处理方法。

背景技术

摄像模组是数码电子产品的重要器件,被各类产品广泛地使用。当前,在数码产品高速、大量的生产过程中,对摄像模组等关键元器件的品质现场处理提出了更高的要求。当出现不良现象时,如何高效地进行现场分析判断,以利于快速处理不良问题,促进生产效率,本发明提出一种摄像头模组不良的现场快速分析处理方法。

发明内容

本发明的目的是为了解决上述现有技术的不足而提供一种能对影像模组各种不良问题自行快速分析的一种摄像模组影像不良的现场快速分析处理方法。

为了实现上述目的,本发明所设计的一种摄像模组影像不良的现场快速分析处理方法,其特征在于:包括以下步骤:

第一步:摄像头模组是否能点亮

不能点亮:接口匹配问题;软件驱动不支持摄像头,可以点亮:往下分析;

第二步:看不良现象的比例

100%出现不良现象,与设计问题有关,包含硬件或者软件设计问题,其为出厂未检测到的模组制程问题;

部分比例出现不良现象,模组的不一致性问题;模组来料的比例性不良问题;模组制程问题;

第三步:良品与不良品交叉测试实验

准备出现不良现象的数码产品和良品数码产品各一台,进行交叉实验:将两台数码产品,摄像头模组互换安装,观察不良现象表现:

(1)不良现象跟随摄像头模组走,摄像头模组问题;

(2)不良现象跟随数码产品本体走,数码产品本体问题,包括是数码产品主板问题,或数码产品屏问题。

第四步:通用测试盒与数码产品交叉测试实验

利用通用测试盒与数码产品,对同一不良模组分别进行点亮,判断不良现象在两类设备上的表现:

1、不良现象在通用测试盒有点亮,在数码产品上有点亮,具体问题为下列其中一种或两种组合:模组硬件设计问题、模组来料不良问题、模组制程不良问题;

2、不良现象在通用测试盒没有点亮,在数码产品上有点亮,具体问题为下列其中一种或两种组合:数码产品主板问题;软件匹配问题;电源干扰问题;数码产品结构干涉问题。

本发明得到的一种摄像模组影像不良的现场快速分析处理方法,通过该现场的分析处理方法能提高的工作效率,可以提高现场维修人员或者使用者对影像进行一个快速的分析判断,有利于更好的对产品进行维护,在生产过程中由于这些问题是常见问题,如果通过该分析出来方法,可以有效的清楚那块出现问题,能准确的对其进行更换或维修,大大的提高了劳动效益,节省了成本。

附图说明

图1是本发明的摄像模组影像不良的现场快速分析处理方法的示意图。

具体实施方式

下面结合实施例对本发明进一步说明。

实施例:

如图1所示,本实施例提供的一种摄像模组影像不良的现场快速分析处理方法,这里对数码产品中的手机做举例说明,其他的数码产品也相同,具体如下:

第一步:摄像头模组是否能点亮?

不能点亮:接口匹配问题;手机软件驱动不支持摄像头。

可以点亮:往下分析。.

第二步:看不良现象的比例

100%出现不良现象,一般与设计问题有关,包含硬件或者软件设计问题;未检测到的模组制程问题。

部分比例出现不良现象,模组的不一致性问题;模组来料的比例性不良问题;模组制程问题。

第三步:良品与不良品交叉测试实验

准备出现不良现象的手机和良品手机各一台,进行交叉实验:将两台手机,摄像头模组互换安装,观察不良现象表现:

不良现象跟随摄像头模组走,摄像头模组问题;

不良现象跟随手机本体走,手机本体问题,可能是手机主板问题,也可能手机屏问题。

第四步:通用测试盒与手机交叉测试实验

利用通用测试盒与手机,对同一不良模组分别进行点亮,判断不良现象在两类设备上的表现:

1、不良现象在通用测试盒有,在手机上有:一般为模组硬件设计问题;模组来料不良问题;模组制程不良问题。

2、不良现象在通用测试盒没有,在手机上有:手机主板问题;软件匹配问题;电源干扰问题;手机结构干涉问题等。

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