[发明专利]半导体器件

说明书

本发明提供一种半导体器件，其具有能在抑制占据面积增大的同时提高精度的传感器。半导体器件具有：第一计数器；以及第二计数器即时间测量电路，其测量直至通过计数具有对应于第一电压的频率的第一信号获得的计数值达到可通过第一计数器计数的最大计数值的时间。根据时间测量电路测量的时间，第一计数器基于通过计数具有对应于不同于第一电压的第二电压的频率的第二信号获得的计数值，获得对应于第一电压的数字信息。

相关申请的交叉引用

将2014年12月25日提交的日本专利申请No.2014-263367的公开内容(包括说明书，附图和摘要)整体并入本文作为参考。

技术领域

本发明涉及一种半导体器件，且特别地，涉及一种其中具有传感器的半导体器件。

传感器通常提供在半导体器件中。传感器的示例是感测半导体器件内部的温度的温度传感器。通过内置温度传感器获取半导体器件中的温度，例如控制半导体器件中电路模块的操作速度。其可抑制诸如半导体器件的操作由于半导体器件的温度上升而变得不稳定的情况。

温度传感器例如公开在专利文献1至4中。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本未审专利申请公布No.2001-251189

专利文献2：日本未审专利申请公布No.2008-256694

专利文献3：美国专利No.6,893,154

专利文献4：美国专利No.8,136,987

背景技术

在半导体器件中提供温度传感器的情况下，希望使半导体芯片中的温度传感器占据的面积小。原因例如是当温度传感器占据的面积大时，半导体芯片的尺寸总量变得更大，且其致使半导体器件成本升高。因此，需要温度传感器的小型化。

在根据温度控制半导体器件中的电路模块的情况下，作为温度传感器的对象的半导体中的温度线性改变。为了控制电路模块，数字信息用作温度传感器的输出。为此，温度传感器具有模拟/数字转换(以下也称为AD转换)电路。在这种情况下，温度传感器的分辨率是通过从AD转换电路输出的数字信息的最低有效位表示的温度梯度(温度改变范围)。温度也可由从AD转换电路输出的数字信息中的某些位(例如从最低有效位朝向最高有效位的几个位)表示。但是，通过从AD转换电路输出的数字信息的许多位，例如所有的位来表示温度，可提高温度传感器的精度。

虽然在专利文献1至4中描述了温度传感器，但是并未描述具有能在抑制占据面积增大的同时提高精度的传感器的半导体器件。

本发明的目的是提供一种具有能在抑制占据面积增大的同时提高精度的传感器的半导体器件。

从说明书和附图的说明将使本发明的上述和其他目的和新颖的特征变得显而易见。

发明内容

将在下文简要说明本申请中公开的发明的代表性概要。

测量至通过计数具有对应于第一电压的频率的第一信号而获得的计数值达到可通过第一计数器计数的最大计数值的时间。此后，根据由时间测量电路测量的时间，通过计数具有对应于不同于第一电压的第二电压的频率的第二信号而获得基于计数值的对应于第一电压的数字信息。因此，第一电压由对应于可通过第一计数器计数的最大计数值的位数的模拟信息表示，且可提高精度。

将在下文简要说明通过本申请中公开的发明的一个代表示例获得的效果。

可提供具有能在抑制占据面积增大的同时提高精度的传感器的半导体器件。

附图说明

图1是说明根据实施例的半导体器件的构造的框图。