[发明专利]病理切片显示方法及装置

权利要求书

1.病理切片显示方法，其特征在于，包括：

根据切片照片的物理宽、高和参考点坐标，计算切片照片的中心坐标；

根据预先获取的像素宽、高计算切片照片中指定图像碎片的行列数；

根据所述行列数、当前切片照片的倍率和干扰系数，计算影响层数，其中，所述干扰系数用于对切片照片出现缝隙错位进行调整；

若所述影响层数满足预设的条件，则通过比较当前调用的层数与所述影响层数，确定实际层数；

根据参考点坐标、实际层数和中心坐标，计算所述指定图像碎片所对应的显示层数和显示横纵坐标；

按照显示层数和显示横纵坐标显示所述指定图像碎片。

2.根据权利要求1所述的病理切片显示方法，其特征在于，步骤所述根据切片照片的物理宽、高和参考点坐标，计算切片照片的中心坐标包括：

根据切片照片的物理高度值和参考点纵坐标，计算切片照片的中心点纵坐标；

根据切片照片的物理宽度值和参考点横坐标，计算切片照片的中心点横坐标。

3.根据权利要求2所述的病理切片显示方法，其特征在于，步骤所述根据切片照片的物理高度值和参考点纵坐标，计算切片照片的中心点纵坐标包括：

使用如下公式计算中心点纵坐标，中心点纵坐标＝物理高度值/2-参考点纵坐标；

步骤所述根据切片照片的物理宽度值和参考点横坐标，计算切片照片的中心点横坐标包括：

使用如下公式计算中心点纵坐标，中心点横坐标＝物理宽度值/2-参考点横坐标。

4.根据权利要求2所述的病理切片显示方法，其特征在于，步骤所述若所述影响层数满足预设的条件，则通过比较当前调用的层数与所述影响层数，确定实际层数包括：

若所述影响层数等于预设的标准值，则通过比较当前调用的层数与所述影响层数，确定实际层数。

5.根据权利要求1所述的病理切片显示方法，其特征在于，所述干扰系数是通过如下步骤获取到的：

多次比较缝隙错位的切片照片与相应正确的切片照片，以得到多个参考系数；统计所述参考系数，以计算出所述干扰系数。

6.病理切片显示装置，其特征在于，包括：

中心坐标计算模块，用于根据切片照片的物理宽、高和参考点坐标，计算切片照片的中心坐标；

行列数计算模块，用于根据预先获取的像素宽、高计算切片照片中指定图像碎片的行列数；

影响层数计算模块，用于根据所述行列数、当前切片照片的倍率和干扰系数，计算影响层数，其中，所述干扰系数用于对切片照片出现缝隙错位进行调整；

实际层数计算模块，用于若所述影响层数满足预设的条件，则通过比较当前调用的层数与所述影响层数，确定实际层数；

位置信息计算模块，用于根据参考点坐标、实际层数和中心坐标，计算所述指定图像碎片所对应的显示层数和显示横纵坐标；

显示模块，用于按照显示层数和显示横纵坐标显示所述指定图像碎片。

7.根据权利要求6所述的病理切片显示装置，其特征在于，中心坐标计算模块包括：

纵坐标计算单元，用于根据切片照片的物理高度值和参考点纵坐标，计算切片照片的中心点纵坐标；

横坐标计算单元，用于根据切片照片的物理宽度值和参考点横坐标，计算切片照片的中心点横坐标。

8.根据权利要求7所述的病理切片显示装置，其特征在于，

纵坐标计算单元，进一步用于使用如下公式计算中心点纵坐标，中心点纵坐标＝物理高度值/2-参考点纵坐标；

横坐标计算单元，进一步用于使用如下公式计算中心点纵坐标，中心点横坐标＝物理宽度值/2-参考点横坐标。

9.根据权利要求7所述的病理切片显示装置，其特征在于，实际层数计算模块包括：

实际层数计算单元，若所述影响层数等于预设的标准值，则用于通过比较当前调用的层数与所述影响层数，确定实际层数。