[发明专利]一种保持覆铜陶瓷基板上铜粒间距尺寸均匀的方法及基板

权利要求书

1.一种保持覆铜陶瓷基板上铜粒间距尺寸均匀的方法，其特征在于，包括：

第一步：根据铜箔厚度确定铜箔侧腐蚀量δ；

第二步：对铜粒外形尺寸按侧腐蚀量整体加放铜粒矩阵：

铜粒矩阵包括互相垂直的X方向和Y方向，铜粒矩阵的铜粒根据排列位置分为布置于铜粒矩阵中间的中部铜粒、布置于中部铜粒外缘四边的边部铜粒和布置于铜粒矩阵四角的角部铜粒；

中部铜粒为长方形，中部铜粒的长边与X方向平行，宽边与Y方向平行，加放后中部铜粒之间的X向间距与Y向间距均为a，设a为间隔的基准单位；

所述的边部铜粒为等腰梯形，边部铜粒包括上底边和下底边，所述上底边邻近中部铜粒；沿Y向分布的边部铜粒为长边铜粒，相邻的长边铜粒的上底边间距为a，相邻的长边铜粒的下底边间距为b，b＝0.30a～0.80a；沿X向分布的边部铜粒为宽边铜粒，相邻的宽边铜粒的上底边间距为a,相邻的宽边铜粒的下底边间距为c，c＝0.40a～0.90a；

所述的角部铜粒为具有一个直角的四边形，直角交汇点为直角点，与直角相对的钝角交汇点为内角点；长边铜粒上底边至相邻的角部铜粒内角点之间的间隔为a，长边铜粒下底边至相邻的角部铜粒直角点之间的间隔也为b+角部铜粒的一段直角边长，b＝0.30a～0.80a；宽边铜粒上底边至相邻的角部铜粒内角点之间的间隔为a；宽边铜粒下底边至角部铜粒直角点之间的间隔也为c+角部铜粒的另一段直角边长，c＝0.40a～0.90a；

所述的长边铜粒与中部铜粒之间的X向间距为a，长边铜粒的上底边与中部铜粒的宽相同，长边铜粒的高与中部铜粒的长相同；所述的宽边铜粒与中部铜粒之间的Y向间距为a，宽边铜粒的上底边与中部铜粒的长相同，宽边铜粒的高与中部铜粒的宽相同。

2.根据权利要求1所述的保持覆铜陶瓷基板上铜粒间距尺寸均匀的方法，其特征在于，

所述的a值确定方式为，预设产品铜粒之间的间距要求为D，a＝D-2δ。

3.一种保持覆铜陶瓷基板上铜粒间距尺寸均匀的方法，其特征在于，包括：

第一步：根据铜箔厚度确定铜箔侧腐蚀量δ；

第二步：对铜粒外形尺寸按侧腐蚀量整体加放铜粒矩阵，铜粒矩阵包括互相垂直的X方向和Y方向，铜粒矩阵的铜粒单元根据排列位置分为布置于铜粒矩阵中间的中部铜粒、布置于中部铜粒外缘四边的边部铜粒和布置于铜粒矩阵四角的角部铜粒；

中部铜粒为正方形，加放后中部铜粒之间的X向间距与Y向间距均为a,设a为间隔的基准单位；

所述的边部铜粒为等腰梯形，边部铜粒包括上底边和下底边，所述上底边邻近中部铜粒；相邻的边部铜粒的上底边间距为a，相邻的边部铜粒的下底边间距为b，b＝0.30a～0.90a；

所述的角部铜粒为具有一个直角的四边形，直角交汇点为直角点，与直角相对的钝角交汇点为内角点；边部铜粒上底边至相邻的角部铜粒内角点之间的间隔为a；边部铜粒的下底边至相邻的角部铜粒直角点之间的间隔也为b+角部铜粒的一段直角边长，b＝0.30a～0.90a；

所述的边部铜粒与中部铜粒之间的X向间距以及Y向间距均为a，边部铜粒的上底边与中部铜粒的长相同。

4.根据权利要求3所述的保持覆铜陶瓷基板上铜粒间距尺寸均匀的方法，其特征在于，

所述的a值确定方式为，预设产品铜粒之间的间距要求为D，a＝D-2δ。

5.一种用权利要求1至4任一所述的保持覆铜陶瓷基板上铜粒间距尺寸均匀的方法制得的基板，其特征在于，基板上设置铜粒矩阵，包括互相垂直的X方向和Y方向，铜粒单元均为相同形状，且X向间距与Y向间距相同。