[发明专利]T/R组件测试系统中发射激励信号的调理装置

说明书

技术领域

本发明涉及T/R组件测试领域，具体涉及T/R组件测试系统中发射激励信号的调理装置。

背景技术

T/R组件一般由一个或者多个信号收发通道组成，T/R组件位于雷达、电子对抗等相控阵体制电子信息装备中的射频微波前端，并且是这类装备中数量最多、同时也是最为重要的一类微波组件，其对整个装备的性能有着至关重要的影响，也是微波组件领域的典型代表。另外，从测试的角度看，它是测试参数最多、测试实现最复杂的一类微波组件。

在T/R组件发射态性能参数测试时，往往会因为通道插损和信号激励产生设备(如信号发生器和矢量网络分析仪中信号源)输出功率不够高而导致发射激励信号功率不足。

在T/R组件自动测试系统中，为实现T/R组件的自动测试，系统需要设计开关网络将测试仪器和被测件连通，这就会在测试通道上引入通道插损。为消除插损影响，通常做法是对通道进行插损补偿。例如，信号源发射端口到T/R组件发射的接收端的通道插损为5dB，T/R组件对激励功率要求为8dBm，那么信号源输出功率需要加至13dBm才能达到测试要求。但是，当信号源端口到T/R组件发射的接收端的通道插损较大或信号源输出功率上限较小时，则会出现T/R组件激励功率达不到要求的情况，导致测试无法进行。为解决这一问题，需要在系统中对发射激励信号进行功率放大。现有的解决方案一般是在信号源输出端口简单地增加放大器，将发射态激励信号功率放大至满足要求的范围，但是存在以下问题：

(1)在以矢量网络分析仪中的源作为激励源时，不能进行全双二端口校准，只能通过归一化的方式进行测试参数测试，无法得到准确的传输参数测试结果；

(2)因为放大器的反向隔离作用也不能进行反射参数测试；

(3)在系统源输出不需要功率放大时，这种方法需要手动拆除放大器，测试效率较低，无法实现测试的自动化；

(4)外置放大器需要供电，使用和集成都较为繁琐。

发明内容

针对现有的T/R组件测试系统中以矢量网络分析仪中的源作为激励源时，不能进行全双二端口校准，无法得到准确的传输参数测试结果，以及在系统源输出不需要功率放大时，需要手动拆除放大器，造成测试效率低下，成本较高的问题，本发明提供了T/R组件测试系统中发射激励信号的调理装置。

本发明采用以下的技术方案：

T/R组件测试系统中发射激励信号的调理装置，包括T/R组件、开关网络、矢量网络分析仪和信号发生器，所述开关网络分别与信号发生器、矢量网络分析仪和T/R组件相连，所述开关网络包括放大器、控制模块和多个开关，所述控制模块分别与开关和放大器相连。

优选地，所述开关网络中的开关包括第一单刀四掷开关、第二单刀四掷开关、第一单刀双掷开关、第二单刀双掷开关、第三单刀双掷开关、第一单刀六掷开关和第二单刀六掷开关，放大器包括第一放大器和第二放大器，第一单刀四掷开关、第二单刀四掷开关、第一单刀双掷开关、第二单刀双掷开关、第三单刀双掷开关、第一单刀六掷开关和第二单刀六掷开关均与控制模块相连，控制模块还通过第一电源与第一放大器相连，通过第二电源与第二放大器相连。

优选地，所述第一单刀四掷开关的第一不动端与第一放大器的输入端相连，第一放大器的输出端与第一单刀六掷开关的第一不动端相连，第一单刀四掷开关的第二不动端与第一单刀六掷开关的第二不动端相连，第一单刀四掷开关的第三不动端与第二单刀六掷开关的第一不动端相连，第一单刀六掷开关的动端与第三单刀双掷开关的动端相连，第二单刀六掷开关的动端与第二单刀四掷开关的动端相连；第一单刀双掷开关的第一不动端与第二放大器的输入端相连，第二放大器的输出端与第二单刀双掷开关的第一不动端相连，第一单刀双掷开关的第二不动端与第二单刀双掷开关的第二不动端相连。

优选地，所述第一单刀四掷开关的动端与信号发生器相连，第一单刀双掷开关的动端与矢量网络分析仪的源输出端相连，第二单刀双掷开关的动端与矢量网络分析仪的源输入端相连，第一单刀六掷开关的第三不动端与矢量网络分析仪的第一端口相连，第二单刀六掷开关的第六不动端与矢量网络分析仪的第二端口相连；所述T/R组件内设置有多个信号收发通道，第三单刀双掷开关的不动端均与信号收发通道的一端相连，第二单刀四掷开关的不动端均与信号收发通道的另一端相连。

本发明具有的有益效果是：