[发明专利]一种确定勘探区表层结构信息的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及地球物理勘探数据处理技术领域，尤其涉及一种确定勘探区表层结构信息的 方法和装置。

背景技术

近年来，随着油田精细勘探的不断推进，对地震资料品质的要求越来越高。在地球物理 勘探数据处理技术领域，静校正处理效果直接影响地震资料的品质，且地表速度、厚度等表 层结构信息的质量决定了静校正处理效果。因此，准确的表层结构信息可以提高地震资料的 品质。

现有技术中获取表层结构信息一般可以包括浅层折射法和面波反演法。浅层折射法中可 以基于折射原理的解释获取表层结构信息。面波反演法中可以从面波的频散信息中获取表层 结构信息。但现有技术中的浅层折射法中折射波需要在下覆介质速度高于上覆介质速度时才 会形成，受地形和地质条件的限制，会存在表层速度反转区(下覆介质速度不高于上覆介质 速度)而无法求取准确的表层结构信息的情况。面波反演法中虽不受地形和地质条件的限制， 但为获取准确的面波频散信息，对观测方法要求高，适用性存在一定的限制，也无法准确确 定表层结构信息。

因此，现有技术中亟需一种确定勘探区表层结构信息的方法，可以保证勘探区表层结构 信息的准确性，为提高地震资料的品质提供数据支持。

发明内容

本申请的目的是提供一种确定勘探区表层结构信息的方法和装置，可以更准确的确定出 勘探区的表层结构信息，为提高地震资料的品质提供数据支持。

本申请提供的确定勘探区表层结构信息的方法和装置是这样实现的：

一种确定勘探区表层结构信息的方法，所述方法包括：

对采集的勘探区地震记录的折射初至信息进行折射解释处理，得到第一表层结构信息；

对采集的勘探区地震记录的面波频散信息进行表层反演处理，得到第二表层结构信息；

判断所述第一表层结构信息中表层速度信息与所述第二表层结构信息中的表层速度信 息是否相匹配；

根据所述判断的结果确定所述勘探区的表层结构信息。

在一个优选的实施例中，所述采集的勘探区地震记录包括：

激发源在所述勘探区检波器组的两端分别激发后，采集得到的两组炮记录的均值。

在一个优选的实施例中，所述激发源至少包括下述之一：

重锤、空气枪、电火花震源。

在一个优选的实施例中，所述判断所述第一表层结构信息中表层速度信息与所述第二表 层结构信息中的表层速度信息是否相匹配包括：

获取所述第一表层结构信息中表层速度信息的速度变化趋势信息，将所述速度变化趋势 信息作为第一速度变化趋势信息；

获取所述第二表层结构信息中表层速度信息的速度变化趋势信息，将所述速度变化趋势 信息作为第二速度变化趋势信息；

判断所述第一速度变化趋势信息和所述第二速度变化趋势信息是否一致，当所述判断的 结果为是时，判断所述第一表层结构信息中表层速度信息与所述第二表层结构信息中的表层 速度信息相匹配；当所述判断的结果为否时，判断所述第一表层结构信息中表层速度信息与 所述第二表层结构信息中的表层速度信息不匹配。

在一个优选的实施例中，所述根据所述判断的结果确定所述勘探区的表层结构信息包 括：

当所述判断的结果为是时，将所述第一表层结构信息作为所述勘探区的表层结构信息；

以及，

当所述判断的结果为否时，将所述第二表层结构信息作为所述勘探区的表层结构信息。

在一个优选的实施例中，所述第一表层结构信息包括所述折射解释处理得到的表层厚度 信息，

或，

所述第二表层结构信息包括所述表层反演处理得到的表层厚度信息。

在一个优选的实施例中，所述方法还包括：

利用所述勘探区的表层结构信息中的表层速度信息和表层厚度信息进行静校正处理。

一种确定勘探区表层结构信息的装置，所述装置包括：

折射解释处理模块，用于对采集的勘探区地震记录的折射初至信息进行折射解释处理， 得到第一表层结构信息；

表层反演处理模块，用于对采集的勘探区地震记录的面波频散信息进行表层反演处理， 得到第二表层结构信息；

判断模块，用于判断所述第一表层结构信息中表层速度信息与所述第二表层结构信息中 的表层速度信息是否相匹配；