[发明专利]一种导轨平行度测量方法及装置在审
申请号: | 201510961972.1 | 申请日: | 2015-12-18 |
公开(公告)号: | CN105403189A | 公开(公告)日: | 2016-03-16 |
发明(设计)人: | 李曦;陈晗;孔刚;朱念念;龙子凡;郭永才;毛延玺;陈吉红 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学;武汉华中数控股份有限公司 |
主分类号: | G01B21/22 | 分类号: | G01B21/22 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 导轨 平行 测量方法 装置 | ||
1.一种导轨平行度测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)将左、右侧导轨的其中一侧作为基准导轨,另一侧作为被测导轨;
(2)同时采样左侧、右侧导轨的高度信息;
(3)采用最小二乘法对基准导轨的采样高度进行拟合得到一条基线;
(4)在基准导轨上搜索距离基线上方最远的两个测量点高度,两高度连接生成第一上包容线;在基准导轨上搜索距离基线下方最远的一个测量点高度,生成通过该测量点且平行于第一上包容线的第一下包容线;
(5)在基准导轨上搜索距离基线下方最远的两个测量点高度,两高度连接生成第二下包容线;在基准导轨上搜索距离基线上方最远的一个测量点高度,生成通过该测量点且平行于第二下包容线的第二上包容线;
(6)从第一上、下包容线的间距和第二上、下包容线的间距选择最小者,其对应的上、下包容线作为评定平行度的基准包容线;
(7)生成平行于基准包容线且包容被测导轨采样高度的上、下包容线,上、下包容线间的纵向间距即为平行度。
2.根据权利要求1所述的一种导轨平行度测量方法,其特征在于,按照步骤(1)-(7)的测量方式测量N次得到N个平行度,计算N个平行度的均值D和标准偏差S,依据均值D和标准偏差S计算得到最终平行度D±3S。
3.一种导轨平行度测量装置,包括测量部件和数据处理系统,其特征在于,所述测量部件包括左、右对称设置且结构相同的测量单元;
测量单元包括纵向调整机构、横向调整机构和位移传感器;横向调整机构安装于纵向调整机构上,传感器安装于横向调整机构上;纵向调整机构和横向调整机构用于将传感器移动至目标位置;位移传感器的输出端连接数据处理系统的输入端;两测量单元的位移传感器分别用于采集左、右导轨的高度信息,数据处理系统用于以其中一个导轨的高度为基准,计算另外一个导轨相对基准导轨的平行度。
4.根据权利要求3所述的导轨平行度测量装置,其特征在于,所述数据处理系统包括:
基线生成模块,用于将左、右侧导轨的其中一侧作为基准导轨,另一侧作为被测导轨,采用最小二乘法对基准导轨的采样高度进行拟合得到一条基线;
第一包容线生成模块,用于在基准导轨上搜索距离基线上方最远的两个测量点高度,两高度连接生成第一上包容线;在基准导轨上搜索距离基线下方最远的一个测量点高度,生成通过该测量点且平行于第一上包容线的第一下包容线;
第二包容线生成模块,用于在基准导轨上搜索距离基线下方最远的两个测量点高度,两高度连接生成第二下包容线;在基准导轨上搜索距离基线上方最远的一个测量点高度,生成通过该测量点且平行于第二下包容线的第二上包容线;
基准包容线生成模块,用于从第一上、下包容线的间距和第二上、下包容线的间距选择最小者,其对应的上、下包容线作为评定平行度的基准包容线;
平行度计算模块,用于生成平行于基准包容线且包容被测导轨采样高度的上、下包容线,上、下包容线间的纵向间距即为平行度。
5.根据权利要求3或4所述的导轨平行度测量装置,其特征在于,所述纵向调整机构包括调平支撑板(8)、纵向移动滑块(10)、纵向调整螺钉(1)、纵向锁紧螺钉(4)和导向板(2),导向板(2)安装于调平支撑板(8)上,导向板(2)内部开有燕尾槽(22),纵向移动滑块(10)位于燕尾槽(22)内,通过旋转纵向调整螺钉(1)带动纵向移动滑块(10)在燕尾槽内上下移动,并在预定位置处通过纵向锁紧螺钉(4)锁定纵向移动滑块(10)。
6.根据权利要求5所述的导轨平行度测量装置,其特征在于,所述横向调整机构包括横向移动滑块(12)、横向调整螺钉(3)和横向锁紧螺钉(11),横向移动滑块(12)位于纵向移动滑块(10)上开设的槽内,通过操作横向调整螺钉(3)带动横向移动滑块(12)横向移动,并在预定位置处通过横向锁紧螺钉(11)锁定横向移动滑块(12)。
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