[发明专利]一种探头支撑装置有效
| 申请号: | 201510958846.0 | 申请日: | 2015-12-17 |
| 公开(公告)号: | CN105485496B | 公开(公告)日: | 2017-08-25 |
| 发明(设计)人: | 黄承祖;齐万泉;刘星汛 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;F16M13/02;F16M11/04 |
| 代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司11315 | 代理人: | 黄熊 |
| 地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 探头 支撑 装置 | ||
技术领域
本申请涉及试验与测试领域,尤其涉及一种探头支撑装置。
背景技术
在无线电测量领域中,电场强度是无线电的基本参数之一,所以电场强度测量的准确性,在试验与测试领域中相当重要。而为了能够使场强探头能准确的测量场强,一般在测量前或者出厂前都需要对场强探头进行校准,所以对场强探头的校准精度会直接影响场强探头的校准结果,从而影响场强探头的测量准确性。
一般对不同频段的电场强度进行校准时,会分别采用横电磁波模式(Transverse Electromagnetic Mode,TEM)室法、吉赫横电磁波模式(Gigahertz Transverse Electromagnetic Mode,GTEM)室法、基于角角锥喇叭天线的标准场法来对场强探头进行校准。但是,其中TEM室法(即传统的TEM室法)和GTEM室法无法在1GHz以上的频段进行精确校准,而基于角喇叭天线的标准场法效率低、成本高,且单个角锥角喇叭天线的覆盖频段窄,所以无法满足大量场强探头扫频的校准需求。目前同心锥形TEM室内可以产生满足宽频带校准的电磁场,场强探头作为感应场强的载体,在进行场强校准时需要放置在同心锥形TEM室内。
同心锥形TEM室腔体内可以满足校准的需求,但受限于同心锥形TEM室的腔体形状,测试区在腔体内形状并不均匀,所以如何在有限的空间内布局相当体积的场强探头是一个关键问题,但现有技术还没有解决如何在同心锥形TEM室腔体内放置场强探头的问题。
发明内容
本申请实施例提供一种探头支撑装置,通过与屏蔽门进行配合,从而达到在同心锥形TEM室内放置并可以调节探头位置的目的。
本申请实施例采用下述技术方案:
一种探头支撑装置,包括:一种探头支撑装置,其特征在于,所述装置应用于同心锥形TEM室内,所述装置包括:底座(1)、横杆(2)、连接件(3)、连接件锁紧螺钉(4);
所述底座(1)整体为中空结构,其一端设计成若干等分的沟槽结构,底座(1)另一端与屏蔽门进行配合;
所述横杆(2)周围设计有至少两个条形凸起(21),与底座(1)一端的沟槽结构进行配合,形成非固定式连接,使得横杆(2)能够沿底座(1)的轴向做一定距离的位移,且横杆(2)能够以一定的步进角转动;
连接件(3)中间开有可供探头锁紧螺钉(6)通过的通槽,所述探头锁紧螺钉(6)可在连接件(3)的通槽上任一点将场强探头(5)固定;连接件(3)通过连接件锁紧螺钉(4)与横杆(2)固定。
优选地,所述底座(1)的一端设计成八等分的沟槽结构;所述横杆(2)周围设计相邻正交关系的四个条形凸起(21),与底座(1)形成非固定式连接,使横杆(2)能够以一定的步进角转动。
优选地,连接件(3)为环形连接件,通槽为环形槽,所述环形连接件的环形的弧度为360°/n,n为同心锥形TEM室内探头支撑装置的个数。
优选地,所述底座(1)另一端与屏蔽门的接触面相同。
优选地,所有部件均采用介电常数小于指定介电常数阈值的非金属材料制成。
本申请实施例采用的上述技术方案能够达到以下有益效果:该装置由底座、横杆、连接件以及连接件锁紧螺钉组成,并通过与安置在同心锥形TEM室外锥体内表面的屏蔽门进行配合,从而达到了在腔室内部放置探头的目的。此外,由于可以在横杆的轴向进行位移、沟槽内进行转动,以及在连接杆上进行位移,也就在腔体内具备了一定的自由度,对测试区的变化有了一定的适应能力。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解,构成本申请的一部分,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:
图1为本申请实施例提供的探头支撑装置的结构示意图;
图2为本申请实施例提供的带有至少两个条形凸起的横杆2的结构示意图;
图3为本申请实施例提供的底座1的右视图;
图4为本申请实施例提供的底座1的后视图;
图5为本申请实施例提供的带有四个条形凸起的横杆2的结构示意图;
图6为本申请实施例提供的与屏蔽门进行配合的示意图;
图7为本申请实施例提供的通过与屏蔽门进行配合,利用探头支撑装置将探头放置在同心锥形TEM室内的示意图。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京无线电计量测试研究所,未经北京无线电计量测试研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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