[发明专利]用于摄像头模组测试的测试用具及其应用、测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及摄像头领域，特别是涉及了一种用于摄像头模组测试的测试用具及其应用、使用该用于摄像头模组测试的测试用具的测试方法。

背景技术

目前，电子设备（如手机、平板等）均带有摄像头，在实际生产过程中，需要对摄像头进行各种功能测试，其中，亮环境和暗环境测试是摄像头模组测试中一个重要参数，如亮点测试，坏线测试，暗电流测试等测试需要在画面全黑的暗环境下测试。现有的亮环境和暗环境切换测试摄像头模组中，通常的做法是手动盖黑板遮挡镜头通光孔或者是使用封闭的盒子罩住摄像头模组以便在摄像模组成像上为全黑的画面，从而实现相关功能测试。其中，手动盖板方式不利于自动化生产；目前较多的是在其他辅助设备上使用封闭盒子罩、驱动机构等方式来实现暗环境，但在辅助设备上实现较复杂，体积较大，成本较高，且不能与目前调焦或测试设备共用，限制其应用性和使用效率。

发明内容

为了解决上述现有技术的不足，本发明提供了一种用于摄像头模组测试的测试用具，其集成了遮挡开关装置，智能地遮挡镜头通光孔和避开镜头通光孔，实现影像亮环境测试和暗环境测试自动切换测试功能，提高生产效率，降低生产成本，且其结构简单、体积小，与目前调焦或测试等设备共用，增加其应用范围及使用效率，具有良好的经济效益。本发明还提供了一种用于摄像头模组测试的测试用具在摄像头测试系统的应用及测试方法。

本发明所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：

用于摄像头模组测试的测试用具，包括基板、设置在基板上的通光孔和遮挡开关装置，该遮挡开关装置用于遮挡或避开所述通光孔；所述遮挡开关装置包括开关承载板、开关挡板、圆形磁铁和线圈；所述圆形磁铁通过定位柱设置在所述开关承载板，所述线圈位于所述圆形磁铁的上方，所述开关挡板通过拨杆与所述圆形磁铁连接，所述线圈用于驱动该圆形磁铁绕该定位柱旋转，带动所述开关挡板运动以遮挡或避开所述通光孔。

进一步地，还包括与基板相对设置的底板，其具有容纳摄像头模组的定位凹槽。

进一步地，所述遮挡开关装置还包括位于所述圆形磁铁侧边的铁块。

进一步地，所述遮挡开关装置还包括驱动装置，其与所述线圈电连接，用于向线圈提供不同方向的电流，以驱动圆形磁铁运动。

一种用于摄像头模组测试的测试用具在摄像头模组测试系统的应用。

一种使用所述的用于摄像头模组测试的测试用具的测试方法，其包括如下步骤：初始化遮挡开关装置，使其处于遮挡或避开通光孔状态；根据遮挡开关装置的状态，测试系统对摄像头模组进行相应的暗环境或亮环境测试；测试完成后，向遮挡开关装置的线圈供应相反方向的电流，使得遮挡开关装置切换至避开或遮挡通光孔状态；根据遮挡开关装置的状态，测试系统对摄像头模组进行相应的亮环境或暗环境测试。

本发明具有如下有益效果：该用于摄像头模组测试的测试用具，其集成了遮挡开关装置，智能地遮挡镜头通光孔和避开镜头通光孔，实现影像亮环境测试和暗环境测试自动切换测试功能，提高生产效率，降低生产成本；其结构简单、体积小，方便操作，可与目前调焦或测试等设备共用，增加其应用范围及使用效率，具有良好的经济效益。

附图说明

图1为本发明一较佳实施例的测试用具的分解示意图；

图2为本发明圆形磁铁与拨杆及铁块的一种位置关系图；

图3为本发明圆形磁铁与拨杆及铁块的另一种位置关系图；

其中，为了更好的体现圆形磁铁与拨杆及铁块的位置关系，将图2和图3中位于与圆形磁铁重合的拨杆部分省略掉，保留与开关挡板连接的部分。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明进行详细的说明。

请参考图1，其显示了本发明较佳实施例的用于摄像头模组测试的测试用具，其包括基板1、设置在基板1上的通光孔2和遮挡开关装置3，该遮挡开关装置3用于遮挡或避开所述通光孔2，以实现摄像头模组的亮环境和暗环境测试环境的自动切换功能。所述遮挡开关装置3包括开关承载板31、开关挡板32、圆形磁铁33、拨杆36和线圈34；所述开关承载板31固定安装在所述顶盖上，用于承载所述遮挡开关装置3的零部件；所述开关挡板32固定在所述拨杆36上，所述拨杆36固定在所述圆形磁铁33上；所述圆形磁铁33通过定位柱35设置在所述开关承载板31，所述线圈34位于所述圆形磁铁33的上方一侧，所述线圈34通电后产生磁场驱动该圆形磁铁33绕该定位柱35旋转，经所述拨杆36带动所述开关挡板32运动以遮挡或避开所述通光孔2，实现亮环境和暗环境状态的切换。