[发明专利]一种恒虚警目标检测方法和系统有效

专利信息
申请号: 201510940703.7 申请日: 2015-12-16
公开(公告)号: CN105548969B 公开(公告)日: 2017-10-31
发明(设计)人: 张思凡;周印龙;王志峰;孙志洁;杨博;李志宇;侯志国 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三研究所
主分类号: G01S7/292 分类号: G01S7/292;G01S7/35;G01S7/41
代理公司: 北京天盾知识产权代理有限公司11421 代理人: 林晓宏
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 恒虚警 目标 检测 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及低空目标检测技术领域,尤其涉及一种恒虚警目标检测方法和系统。

背景技术

在目标探测定向过程中,目标检测和定向顺序构成目标探测定向的基本流程。

目标检测采用时、频域分析或综合分析,检测包括波形、能量、频谱构成和变化特征等重要参量,确定目标有无。目标定向通常采用传感器阵列相控扫描空间方位,依据波束主极大定向;或采用现代信号处理方法进行信号空间分析,解算目标方向。

通常探测系统设计为先检测后定向,但信噪比较低或极低的条件下,仅依据目标检测已经难于抑制探测虚警,特别是噪声水平较高的情况,此时定向的空间谱形式十分复杂、伪峰增多,不利于确定目标方位,导致探测虚警升高。

发明内容

本发明的目的是提供一种恒虚警目标检测方法和系统,以解决上述问题。

所述恒虚警目标检测方法,包括:

获得以探测阵列为中心、关于频率、方向和虚警率的、满足恒虚警率的空间谱检测门限集合和对应的空间谱模板集合;

获得当前探测目标的探测频率、探测空间谱和探测定向结果;

根据所述探测频率和探测定向结果在所述空间谱模板集合中检索,获得与所述探测频率和探测定向结果相对应的检测空间谱;

计算所述检测空间谱与所述探测空间谱所对应的探测空间谱门限;

根据所述探测频率和探测定向结果在所述空间谱检测门限集合中检索,获得与所述探测频率和探测定向结果相对应的检测空间谱检测门限;

判断所述探测空间谱门限是否大于所述检测空间谱门限,

若所述探测空间谱门限不大于所述检测空间谱门限,则判定当前探测目标存在,

若所述探测空间谱门限大于所述检测空间谱门限,则判定当前探测目标不存在。

本发明还公开了一种恒虚警目标检测系统,包括:

模板存储单元,所述模板存储单元用于存储以探测阵列为中心、关于频率、方向和虚警率的、满足恒虚警率的空间谱检测门限集合和对应的空间谱模板集合;

探测阵列,所述探测阵列用于获得当前探测目标的探测频率、探测空间谱和探测定向结果;

第一检索单元,所述第一检索单元分别与所述模板存储单元和探测阵列相连,用于根据所述探测频率和探测定向结果在所述空间谱模板集合中检索,获得与所述探测频率和探测定向结果相对应的检测空间谱;

探测空间谱门限获取单元,所述探测空间谱门限获取单元与所述第一检索单元相连,用于接收所述检测空间谱与所述探测空间谱,并计算所述检测空间谱与所述探测空间谱所对应的探测空间谱门限;

第二检索单元,所述第二检索单元分别与所述模板存储单元和探测阵列相连,用于根据所述探测频率和探测定向结果在所述空间谱检测门限集合中检索,获得与所述探测频率和探测定向结果相对应的检测空间谱检测门限;

目标判定单元,所述目标判定单元分别与所述探测空间谱门限获取单元和第二检索单元相连,用于判断所述探测空间谱门限是否大于所述检测空间谱门限,若所述探测空间谱门限不大于所述检测空间谱门限,则判定当前探测目标存在,若所述探测空间谱门限大于所述检测空间谱门限,则判定当前探测目标不存在。

可见,本发明提出了一种恒虚警目标检测方法在获得探测目标的探测频率、探测空间谱和探测定向结果后,再根据预先获得的空间谱检测门限集合和对应的空间谱模板集合进行对空间谱开展进一步分析检测,以判定检测目标是否存在。即在定向环节中对空间谱开展进一步分析检测,利用空间定向信息提升低信噪比和极低信噪比情况下的目标检测能力。该方法能够降低探测虚警,并且对于提升探测系统的远距离检测定向能力有重要意义。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对本发明实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种恒虚警目标检测方法流程图;

图2为本发明实施例提供的一种获得空间谱检测门限集合和对应的空间谱模板集合的流程图;

图3为本发明实施例提供的一种恒虚警目标检测系统示意图。

具体实施方式

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第三研究所,未经中国电子科技集团公司第三研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510940703.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top