[发明专利]一种图像传感器坏点检测和校正的方法及装置有效
| 申请号: | 201510929067.8 | 申请日: | 2015-12-14 |
| 公开(公告)号: | CN105430385B | 公开(公告)日: | 2017-06-30 |
| 发明(设计)人: | 詹进;董鹏宇;高厚新;李源;蒋尔松;吴子辉;党韩兵 | 申请(专利权)人: | 上海富瀚微电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00;H04N5/367 |
| 代理公司: | 上海唯源专利代理有限公司31229 | 代理人: | 曾耀先 |
| 地址: | 200233 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 图像传感器 检测 校正 方法 装置 | ||
1.一种图像传感器坏点检测和校正的装置,其特征在于,包括:
一图像传感器数据输入单元,用于输入图像传感器数据;
一增益补偿单元,与所述图像传感器数据输入单元连接,用于对以所述图像传感器数据的每个点为中心的MxN数据窗中的各个通道的数据进行增益计算和增益补偿;
一坏点判断单元,与所述增益补偿单元连接,用于判断经增益计算和增益补偿的图像传感器数据的每个点在所述MxN数据窗的各个方向上是否满足坏点条件,并将判断结果作为坏点信息输出;
一去坏点强度控制单元,与所述增益补偿单元连接,用于计算所述图像传感器数据的每个点为中心的MxN数据窗中与当前点同通道的点的方差和平均亮度,利用所述方差和所述平均亮度计算当前点的纹理强度,根据计算得到的所述纹理强度决定当前点的去坏点强度;
一坏点校正单元,与所述增益补偿单元、所述坏点判断单元及所述去坏点强度控制单元连接,用于根据所述坏点信息和所述去坏点强度计算得到坏点校正值,并利用所述坏点校正值校正所述经增益计算和增益补偿的图像传感器数据;以及
一去坏点数据输出单元,与所述坏点校正单元连接,用于输出校正后的图像传感器数据。
2.如权利要求1所述的图像传感器坏点检测和校正的装置,其特征在于:所述图像传感器数据为以2x2为周期的四个滤镜的各种排列产生的数据,所述图像传感器数据的格式为Bayer格式、RGBIR格式、RGBW格式以及CyYeMgGr格式中的任意一种。
3.如权利要求1所述的图像传感器坏点检测和校正的装置,其特征在于,所述增益补偿单元包括:
一增益计算模块,与所述图像传感器数据输入单元连接,用于通过以MxN数据窗中的各个通道的亮度均值与第一通道的亮度均值的比值作为各个通道需要补偿的增益,进行增益计算;以及
一增益补偿模块,与所述增益计算模块连接,用于通过对各个通道的数据乘以对应通道需要补偿的增益,进行增益补偿。
4.如权利要求1所述的图像传感器坏点检测和校正的装置,其特征在于,所述坏点判断单元包括:
一坏点水平方向判断模块,与所述增益补偿单元连接,用于判断经增益计算和增益补偿的图像传感器数据的每个点在所述MxN数据窗的水平方向上是否满足坏点条件;
一坏点垂直方向判断模块,与所述增益补偿单元连接,用于判断经增益计算和增益补偿的图像传感器数据的每个点在所述MxN数据窗的垂直方向上是否满足坏点条件;
一坏点45度方向判断模块,与所述增益补偿单元连接,用于判断经增益计算和增益补偿的图像传感器数据的每个点在所述MxN数据窗的45度方向上是否满足坏点条件;
一坏点135度方向判断模块,与所述增益补偿单元连接,用于判断经增益计算和增益补偿的图像传感器数据的每个点在所述MxN数据窗的135度方向上是否满足坏点条件;以及
一坏点整体判断模块,与所述坏点水平方向判断模块、所述坏点垂直方向判断模块、所述坏点45度方向判断模块、所述坏点135度方向判断模块及所述坏点校正单元连接,用于判断经增益计算和增益补偿的图像传感器数据的每个点是否同时满足在所述MxN数据窗的水平方向、垂直方向、45度方向及135度方向上的四个坏点条件,将同时满足四个坏点条件的情况判断为坏点,将不同时满足四个坏点条件的情况判断为正常点,将关于坏点和正常点的判断结果作为坏点信息输送至所述坏点校正单元。
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