[发明专利]新型发光二极管外延片及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201510926979.X 申请日: 2015-12-14
公开(公告)号: CN105405947A 公开(公告)日: 2016-03-16
发明(设计)人: 孙玉芹;王江波 申请(专利权)人: 华灿光电股份有限公司
主分类号: H01L33/32 分类号: H01L33/32;H01L33/06;H01L33/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 430223 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 新型 发光二极管 外延 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种新型发光二极管外延片,所述新型发光二极管外延片包括:衬底,以及依次覆盖在所述衬底上的u型GaN层、N型GaN层、多量子阱有源层、P型AlGaN层和P型GaN载流子层,所述多量子阱有源层包括交替生长的多个InGaN阱层和多个GaN垒层;

其特征在于,所述GaN垒层包括依次覆盖在所述InGaN阱层上的第一GaN子层、第二GaN子层和第三GaN子层,所述第二GaN子层为生长过程中采用铟源进行表面处理的GaN子层。

2.根据权利要求1所述的新型发光二极管外延片,其特征在于,所述第一GaN子层的厚度为d1,所述第二GaN子层的厚度为d2,所述第三GaN子层的厚度为d3,1nm≤d1≤2nm,4nm≤d2≤16nm,1nm≤d3≤2nm。

3.根据权利要求1或2所述的新型发光二极管外延片,其特征在于,所述第二GaN子层为生长过程中采用流量为F的铟源进行表面处理的GaN子层,10sccm≤F≤500sccm。

4.根据权利要求1或2所述的新型发光二极管外延片,其特征在于,所述第二GaN子层为在生长温度T下采用铟源进行表面处理的GaN子层,900℃≤T≤1000℃。

5.根据权利要求1或2所述的新型发光二极管外延片,其特征在于,所述InGaN阱层和GaN垒层的层数均为6。

6.一种新型发光二极管外延片制备方法,其特征在于,所述方法包括:

提供一衬底;

在所述衬底上依次生长u型GaN层和N型GaN层;

在所述N型GaN层上生长多量子阱有源层,所述多量子阱有源层包括交替生长的多个InGaN阱层和多个GaN垒层,所述GaN垒层包括依次覆盖在所述InGaN阱层上的第一GaN子层、第二GaN子层和第三GaN子层,在所述第二GaN子层的生长过程中,采用铟源对所述第二GaN子层进行表面处理;

在所述P型GaN垒上依次生长P型AlGaN层和P型GaN载流子层。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述第一GaN子层的厚度为d1,所述第二GaN子层的厚度为d2,所述第三GaN子层的厚度为d3,1nm≤d1≤2nm,4nm≤d2≤16nm,1nm≤d3≤2nm。

8.根据权利要求6或7所述的方法,其特征在于,在所述第二GaN子层生长过程中,采用流量为F的铟源进行表面处理,10sccm≤F≤500sccm。

9.根据权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述第二GaN子层的生长温度为T,900℃≤T≤1000℃。

10.根据权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述InGaN阱层和GaN垒层的层数均为6。

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