[发明专利]生产线上的分布式自动化检测系统和方法在审
| 申请号: | 201510922033.6 | 申请日: | 2015-12-11 |
| 公开(公告)号: | CN106872836A | 公开(公告)日: | 2017-06-20 |
| 发明(设计)人: | 林淼;万建华;刘恩锋 | 申请(专利权)人: | 研祥智能科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/01 | 分类号: | G01R31/01 |
| 代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人: | 谢曲曲 |
| 地址: | 518107 广东省深圳市光*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 生产 线上 分布式 自动化 检测 系统 方法 | ||
技术领域
本发明涉及自动化检测技术领域,特别是涉及一种生产线上的分布式自动化检测系统和方法。
背景技术
近年来,由于智能电视、网络电视、平板电脑等电子产品的快速发展,市场一直处在不断扩张中,且随着人们对音视频的体验要求不断提高,现有的电子产品的功能及接口越来越多。现各大电子产品厂商为了保证产品质量,在电子产品出厂前都会对其进行质量检测,随着电子产品的功能和接口的增多,所需要检测的项目也就随之增加。
在自动化检测的流水线上都有一定的节拍(流水线节拍,即工装板在一个工位停留的时间加上移动到下一个工位所耗的时间之合),那么进行电子产品检测时,单件产品在同一工位停留的时间就有限制要求,以满足流水线节拍。
采用自动化设备对电子产品进行检测时,每一项功能及接口的检测时间是固定的,那么接口、功能等检测项目的增多必然导致单件电子产品的检测总时间增加。如此一来,就会出现无法满足流水线节拍的问题。
发明内容
基于此,有必要针对上述问题,提供一种即使检测项目增多也能满足流水线节拍的生产线上的分布式自动化检测系统和方法。
一种生产线上的分布式自动化检测系统,所述系统包括:
主检测装置,设置于生产线工位上,用于获取用户选择的检测装置和对应的功能测试项,所述用户选择的检测装置包含至少一个分检测装置,将所述功能测试项发送至对应的分检测装置;
至少一个分检测装置,设置于生产线工位上,用于当检测到待测电子产品 时,根据所述功能测试项对所述待测电子产品进行测试。在其中一个实施例中,所述主检测装置还用于当检测到所述待测电子产品时,根据用户设置的功能测试项对所述待测电子产品进行测试;
其中,所述待测电子产品经上一检测装置测试完毕后移动至下一检测装置,所述上一检测装置为主检测装置或分检测装置,对应的所述下一检测装置为分检测装置或主检测装置。
在其中一个实施例中,所述主检测装置还用于获取用户输入的遥控路由表,将所述遥控路由表发送至用户选择的分检测装置;
所述分检测装置还用于当检测到待测电子产品时,根据所述功能测试项确定需要测试的目标通道,根据存储的所述遥控路由表控制所述待测电子产品由当前通道切换至所述目标通道,以对所述目标通道进行测试。
在其中一个实施例中,所述分检测装置还用于在控制所述待测电子产品由当前通道切换至所述目标通道之后,发送图像测试请求至所述主检测装置;
所述主检测装置还用于根据所述图像测试请求采集所述待测电子产品切换至所述目标通道后的图像,并对所述图像进行分析处理以判定所述待测电子产品切换通道是否正常,记录图像测试结果,并将所述图像测试结果返回给所述分检测装置。
在其中一个实施例中,上一检测装置测试完毕后,所述待测电子产品移动至下一检测装置,所述下一检测装置当前通道为上一检测装置最后一次测试的目标通道。
在其中一个实施例中,所述用户选择的检测装置的数量为总测试时间与所述待测电子产品在上一个工位上停留到移动至下一工位的预设时长的比值,所述总测试时间为用户设置的功能测试项的测试时间之和,当所述比值为非整数时,则进位到整数。
一种生产线上的分布式自动化检测方法,所述方法包括:
通过设置于生产线工位上的主检测装置获取用户选择的检测装置和对应的功能测试项,所述用户选择的检测装置包括至少一个分检测装置,将所述功能 测试项发送至对应分检测装置;
通过设置于生产线工位上的至少一个分检测装置,所述分检测装置当检测到待测电子产品时,根据所述功能测试项对所述待测电子产品进行测试。
在其中一个实施例中,所述用户选择的检测装置还包括主检测装置,所述方法还包括:
通过主检测装置当检测到所述待测电子产品时,根据用户设置的功能测试项对所述待测电子产品进行测试;
其中,所述待测电子产品经上一检测装置测试完毕后移动至下一检测装置,所述上一检测装置为主检测装置或分检测装置,对应的所述下一检测装置为分检测装置或主检测装置。
在其中一个实施例中,所述方法还包括:
通过所述主检测装置获取用户输入的遥控路由表,将所述遥控路由表发送至用户选择的分检测装置;
通过所述分检测装置当检测到待测电子产品时,根据所述功能测试项对所述待测电子产品进行测试的步骤,包括:
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