[发明专利]可提高激励信号信噪比的测试系统

说明书

本发明提出了一种提高测试激励信号信噪比的方法，在信号发生器与待测器件间增加无源分压电路，通过分压比调整信号发生器输出信号幅度，使信号经过分压电路后还原到实际待测器件需要的信号幅度，从而实现激励信号幅值不变，通过分压电路后信号携带的噪声发生了相应倍数的衰减，分压电路设计靠近待测器件端，从而实现降低整个信号传输通路上噪声的作用，提高激励信号信噪比，具有简单、灵活方便等优点。

技术领域

本发明涉及器件测试领域，尤其涉及一种可提高激励信号信噪比的测试系统。

背景技术

信号发生器(AWG)是一种能提供各种频率、波形和输出电平电信号的设备。在测量各种电信系统或电信设备的振幅特性、频率特性、传输特性及其它电参数时，以及测量元器件的特性与参数时，用作测试的信号源或激励源。

目前在对待测器件(DUT)进行测试时，通常会由信号发生器(AWG)发出激励信号，对待测器件进行测试。图1为具有典型任意波形发生器测试系统的结构示意图，其中，通常情况下会在信号发生器中与待测器件之间增加低通滤波器(LPF)或者带通滤波器(BPF)，图未示出，通过低通滤波器的作用滤除高频信号或者除需要信号以外的频率分量，从而提高激励信号总谐波失真(THD)和无杂散动态范围(SFDR)指标，但是这些无法降低信号噪声，而且不管是低通滤波器和是带通滤波器的引入均会增加传输路径上的信号噪声。

由于测试系统、测试线路、外围器件会带来噪声干扰等影响，从而影响AWG输出信号质量，从而导致待测器件测量的不准确。如上文所述，现有技术中可以通过增加低通滤波器或带通滤波器提高THD和SFDR，但是无法提高信噪比(SNR)。信噪比(SNR)是指一个电子设备或者电子系统中信号与噪声的比例，单位为分贝(dB)，SNR计算为信号采样奈奎斯特频率内信号功率与全部噪声功率比值的对数。SNR、THD和SFDR是表征AWG输出信号质量的主要指标。因此，为了提高AWG输出信号质量，需要一种提高信噪比的方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种可提高激励信号信噪比的测试系统，能够在不改变输入激励信号幅度和频率的情况下，降低激励信号噪声，提高激励信号信噪比，从而满足待测器件规格要求。

为了实现上述目的，本发明提出了一种可提高激励信号信噪比的测试系统，用于对待测器件进行测试，包括信号发生器及分压电路，所述分压电路连接在所述信号发生器和待测器件之间。

进一步的，在所述的可提高激励信号信噪比的测试系统中，所述分压电路采用电阻分压的无源线性分压电路。

进一步的，在所述的可提高激励信号信噪比的测试系统中，所述分压电路包括第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3和第四电阻R4，其中，所述第一电阻R1和第二电阻R2串联形成第一支路，所述第一电阻R1和第三电阻R3串联形成第二支路，所述第四电阻R4连接在第一支路和第二支路之间。

进一步的，在所述的可提高激励信号信噪比的测试系统中，所述第一电阻R1为0欧姆。

进一步的，在所述的可提高激励信号信噪比的测试系统中，所述分压电路的分压比G为：

其中，R2、R3和R4分别为第二电阻R2、第三电阻R3和第四电阻R4。

进一步的，在所述的可提高激励信号信噪比的测试系统中，所述分压比G的范围为0～1。

进一步的，在所述的可提高激励信号信噪比的测试系统中，还包括滤波电路，所述滤波电路连接在信号发生器和分压电路之间。

进一步的，在所述的可提高激励信号信噪比的测试系统中，所述滤波电路包括低通滤波或者带通滤波电路。