[发明专利]一种获取存储器中存储单元的位置信息的方法及装置

说明书

本发明提供一种获取存储器中存储单元的位置信息的方法及装置。所述方法包括：读取并解析用户输入的存储器的GDS版图文件，并建立所述用户输入的存储器的GDS版图文件的相应数据结构；基于所述用户输入的存储器的GDS版图文件的相应数据结构获取所述存储器中所有存储单元的位置信息。本发明能够快速、准确地获取存储器中存储单元的位置信息。

技术领域

本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种获取存储器中存储单元的位置信息的方法及装置。

背景技术

在集成电路技术领域中，通常在完成存储器的设计后会产生GDS(Graphic DataStream，叫做图形数据流文件)文件，GDS文件是一种以二进制形式存储的版图文件，是现在业界公认的半导体物理版图存储格式。

在存储器使用过程中，经常需要获取存储器存储单元的位置信息，但是GDS版图文件是二进制形式存储的，使得用户无法直接获取所述存储器存储单元的位置信息。现有的通常做法主要是利用IC版图工具导入存储器对应的GDS版图文件，并通过人工查看图形的方式来获取存储器存储单元的位置信息。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下技术问题：

1)借助IC版图工具导入GDS版图文件需要经过文本与图形的相互转换，这使得获取存储器存储单元的位置信息的操作繁琐且比较耗时；

2)通过人工查看图形的方式来获取存储器存储单元的位置信息，也比较耗时且容易出现错误。

发明内容

本发明提供的一种获取存储器中存储单元的位置信息的方法及装置，其操作简单方便，且快速、准确地获取存储器中存储单元的位置信息。

第一方面，本发明提供一种获取存储器中存储单元的位置信息的方法，包 括：

读取并解析用户输入的存储器的GDS版图文件，并建立所述用户输入的存储器的GDS版图文件的相应数据结构；

基于所述用户输入的存储器的GDS版图文件的相应数据结构获取所述存储器中所有存储单元的位置信息。

可选地，在所述基于所述用户输入的存储器的GDS版图文件的相应数据结构获取所述存储器中所有存储单元的位置信息之后还包括显示获取的所述存储器中所有存储单元的位置信息。

可选地，所述显示获取的所述存储器中所有存储单元的位置信息包括：

将获取的所述存储器中所有存储单元的位置信息写入bitmap文件；

显示所述bitmap文件，以便于用户能够直接获取所述存储器中所有存储单元的位置信息。

可选地，在所述将获取的所述存储器中所有存储单元的位置信息写入bitmap文件之前还包括：对获取的所述存储器中所有存储单元的位置信息进行准确性验证，若验证成功，则将获取的所述存储器中所有存储单元的位置信息写入bitmap文件，若验证失败，则重新基于所述用户输入的存储器的GDS版图文件的相应数据结构获取所述存储器中所有存储单元的位置信息。

可选地，所述对获取的所述存储器中所有存储单元的位置信息进行准确性验证包括：从所述GDS版图文件中抽取所述存储器中所有存储单元的图形信息，以生成第一GDS版图文件；根据获取的所述存储器中所有存储单元的位置信息，将用于拼接所述存储器的各个存储单元重新拼接，以生成第二GDS版图文件；对比所述第一GDS版图文件与所述第二GDS版图文件，若所述第一GDS版图 文件与所述第二GDS版图文件一致，则表明验证成功，若所述第一GDS版图文件与所述第二GDS版图文件不一致，则表明验证失败。