[发明专利]一种大功率服务器电源EMC测试方法在审

专利信息
申请号: 201510903512.3 申请日: 2015-12-09
公开(公告)号: CN105527517A 公开(公告)日: 2016-04-27
发明(设计)人: 党杰 申请(专利权)人: 浪潮电子信息产业股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 济南信达专利事务所有限公司 37100 代理人: 姜明
地址: 250101 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 大功率 服务器 电源 emc 测试 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及服务器的电磁兼容测试技术领域,具体提供一种大功率服务器电源EMC测试方法。

背景技术

在与传统机架式服务器相比,SmartRack整机柜服务器具有部署密度大,管理集中灵活等特点。但是,单台整机柜上万瓦的供电需求也给电磁兼容测试提出了一个难题:在实验室建设初期,一般很少考虑单相供电能提供如此大的功率,而且,很多测试EMC单相电源的仪器也达不到这么大的功率。以电流10A和30A计算,少则两三千瓦(220V*10A),多则五六千瓦(220V*30A)。其次,绝大部分实验室所采用的仪器针对单相供电,额定功率最大也在五六千瓦。因此,即使改造供电线路,也会超过仪器量程,把仪器烧坏。而大部分实验室都有三相供电接口,通常情况下,每相供电可通电流30A左右。这样,三相供电接口可提供一万五千瓦以上的功率需求。同样,测试三相电源的仪器的额定功率也可达一万五千瓦以上。

发明内容

本发明的技术任务是针对上述存在的问题,提供一种即能在单相电功率不足的实验室测试,又能使用额定功率高的三相测试仪器,易用性强的大功率服务器电源EMC测试方法。

为实现上述目的,本发明提供了如下技术方案:

一种大功率服务器电源EMC测试方法,所述方法使用直供电转接治具,所述转接治具将两路单相电合并成一路三相电,即能在单相供电功率不足的EMC实验室测试,又能使用额定功率高的三相EMC测试仪器来代替单相EMC测试仪器。通过所述方法可以在满足受限的供电环境和仪器前提下,能很精准地完成EMC测试。

作为优选,所述转接治具符合EMC标准的测试要求,可选取有代表性的辐射测试、电源端口传导测试、电源端口浪涌测试,并与标准的符合度分析,提出相应对策。

作为优选,所述测试方法包括EMI测试和EMS测试,所述辐射测试、电源端口传导测试为EMI测试,电源端口浪涌测试为EMS测试。EMC测试是一项系统级的测试,即使硬件功能实现,测试结果也可能有很大的差异。其主要原因是:依据EMC测试原理,其跟射频电流路径和“等效射频天线”有很大的关系,任何射频电流路径的改变都会影响最终干扰效能;而所谓“等效射频天线”包括:各种线缆、屏蔽层、阻抗压差、甚至是某段金属和缝隙。所述转接治具明显改变了射频电流路径和线缆及屏蔽层。由此EMC的测试分为两种:一种是EMI测试,另一种是EMS测试,EMI即设备对干扰能力测试,EMS即设备抗外界干扰能力测试。

本发明具有以下突出的有益效果:所述测试方法使用的转接治具,将两路单相电合并成一路三相电,即能在单相供电功率不足的EMC实验室测试,又能使用额定功率高的三相EMC测试仪器来代替单相EMC测试仪器;通过所述方法可以在满足受限的供电环境和仪器前提下,能很精准地完成EMC测试。

附图说明

图1为本发明所述大功率服务器电源EMC测试方法所用治具内部线缆连接示意图;

图2为本发明所述大功率服务器电源EMC测试方法的辐射测试示意图;

图3为本发明所述大功率服务器电源EMC测试方法的传导测试示意图;

图4为本发明所述大功率服务器电源EMC测试方法的浪涌测试示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明所述大功率服务器电源EMC测试方法作进一步详细说明。

在本发明中,在未作相反说明的情况下,使用的方位词如“上、下、左、右”通常是指参考附图所示的上、下、左、右;“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内、外。

实施例

如图1所示,本发明所述大功率服务器电源EMC测试方法,使用直供电转接治具,所述转接治具将两路单相电合并成一路三相电,即能在单相供电功率不足的EMC实验室测试,又能使用额定功率高的三相EMC测试仪器来代替单相EMC测试仪器。转接治具符合EMC标准的测试要求,可选取有代表性的辐射测试、电源端口传导测试、电源端口浪涌测试,并与标准的符合度分析,提出相应对策。测试方法包括EMI测试和EMS测试,所述辐射测试、电源端口传导测试为EMI测试(如图2和图3所示),电源端口浪涌测试为EMS测试(如图4所示)。

本发明的大功率服务器电源EMC测试方法为:

(1)辐射测试:针对电源,其电源线缆是重要的“等效射频天线”,其电源线缆中射频电流大小和路径会影响到测试结果,在测试时,将此治具的分叉点置于金属参考接地板下,这样治具对测试结果的影响就可以忽略不计(如图2所示);

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