[发明专利]测量回转曲面的方法在审

专利信息
申请号: 201510891634.5 申请日: 2015-12-07
公开(公告)号: CN105466353A 公开(公告)日: 2016-04-06
发明(设计)人: 汤亮 申请(专利权)人: 上海现代先进超精密制造中心有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 上海顺华专利代理有限责任公司 31203 代理人: 陈淑章
地址: 200433 上海市杨*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 测量 回转 曲面 方法
【权利要求书】:

1.一种基于Taylor-Hobson触针式轮廓仪的装夹测量回转曲面的方法,其特征在于,首先将首个被测曲面设置于夹紧机构上,夹紧机构设置于Taylor-Hobson触针式轮廓仪上,然后以被测曲面水平方向最右端X2和最左端X1的差值为测量长度ΔX,调整高度方向上的坐标值以得到若干条轮廓线,找到最接近被测曲面中心点的轮廓线并保存数据,之后的被测曲面使用保存数据即可找到中心点。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的调整高度方向上的坐标具体步骤包括:

步骤一、目测将测针针尖放在被测曲面中心的正上方,记录当前显示的高度方向Y坐标值;

步骤二、将记录的Y坐标值减去0.1mm,得到Y1值。将针尖抬起,手动将三维工作台移动至Y1坐标处,测针下垂,输入测量名称和测量长度ΔX后开始测量,得到第一条轮廓线;

步骤三、将针尖抬起,将Y1坐标值加上0.01mm,得到Y2值。手动将三维工作台移动至Y2坐标处,测针下垂,输入测量名称和测量长度ΔX后开始测量,得到第二条轮廓线;

步骤四、在Y2的基础上以0.01mm为间距,得到Y3,Y4……Y21,重复步骤三直至得到第二十一条轮廓线,并按测量顺序记下编号,第一条记为Y1,第二条记为Y2……第二十一条为Y21。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述的找到最接近被测曲面中心点的轮廓线具体实现方式为:将被测曲面以及夹紧机构移至金相显微镜200倍视野下,调整前后方向确保在显微镜下看到的第一条线与Taylor-Hobson触针式轮廓仪上测量的第一条线为同一条线,即Y1,依此为起点逐条观察划线痕迹,其中最接近工件加工回转中心点的那条线,即为目标值,记录下该条轮廓线的编号。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述的最接近被测曲面中心点是指与实际中心点距离误差小于0.01mm的中心点。

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述的夹紧机构包括从上至下依次设置的第一夹具体、第二夹具体和第三夹具体,其中:第三夹具体设置于Taylor-Hobson触针式轮廓仪上,被测曲面设置于第一夹具体和第二夹具体之间。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述的第一夹具体为弹簧夹头结构。

7.根据权利要求5或6所述的方法,其特征在于,所述的第二夹具体的上部与第一夹具体旋紧配合,下部开有与第三夹具体扣合的V字形槽。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述的第三夹具体的上部设有与第二夹具体的下部扣合的凸起球结构,下部设有与Taylor-Hobson触针式轮廓仪夹紧设置的突出的圆柱结构。

9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述的第二夹具体和第三夹具体上设有对齐标识。

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