[发明专利]钢琴键子触感测量块和钢琴键子触感测量方法

说明书

本发明涉及钢琴键子触感测量块，包括主体和与主体固定的配重；主体的下端包括左平面、中间凸块、右平面，其中左平面和右平面位于同一水平面上，向下凸出的中间凸块位于左平面和右平面之间；中间凸块的下端面为从前下方往后上方倾斜的斜面；当中间凸块的斜面压下一个键子的前端并与该键子贴合时，左平面位于下压键子左侧键子的正上方，右平面位于下压键子右侧键子的正上方。本发明还涉及钢琴键子触感测量方法。本发明具有结构简单、操作方便的优点，属于钢琴生产测量技术领域。

技术领域

本发明涉及钢琴生产测量技术，具体的说，涉及钢琴键子触感测量块和钢琴键子触感测量方法。

背景技术

钢琴键子包括黑键和白键，本申请中的键子触感测量指的是白键。

钢琴键子的安装是钢琴生产中的一个重要环节，安装要求是：各键子的深度均要一致。

为了使所有键子深度一致，现有技术是：通过熟练的调琴师人手逐个按压调试。

然而现有技术存在如下缺点：1.需要专业人员，调试难度大，一般人难以胜任。2.主观性强。3.人手下压键子，每次下压力度不同，造成误差。4.对每个键子可能需要弹奏多次感知，才能进行比较，效率低。

发明内容

针对现有技术中存在的技术问题，本发明的目的是：提供一种钢琴键子触感测量块和钢琴键子触感测量方法，只需对操作人员略加培训，操作人员即可简单快速的判断一套钢琴键子是否深浅一致，快速找出不合要求的键子。

为了达到上述目的，本发明采用如下技术方案：

钢琴键子触感测量块，包括主体和与主体固定的配重；主体的下端包括左平面、中间凸块、右平面，其中左平面和右平面位于同一水平面上，向下凸出的中间凸块位于左平面和右平面之间；中间凸块的下端面为从前下方往后上方倾斜的斜面；当中间凸块的斜面压下一个键子的前端并与该键子贴合时，左平面位于下压键子左侧键子的正上方，右平面位于下压键子右侧键子的正上方。

作为一种优选，主体内设有安装腔，配重位于安装腔内。

作为一种优选，主体包括凸形块、胶垫、胶片；凸形块的纵向截面为倒置的“凸”字形，安装腔开设在凸形块的前端，与凸形块的前端大小相同的胶片固定在凸形块的前端；三块胶垫固定在凸形块的表面，三块胶垫分别构成左平面、右平面、中间凸块的斜面。

作为一种优选，凸形块的材料为塑料；胶垫的材料为磁胶；胶片的材料为塑料。

作为一种优选，安装腔为轴向方向沿着前后方向延伸的圆柱形；配重为圆柱形的铅粒；安装腔的数量为多个，配重的数量为多个，一个安装腔内放置多个铅粒。

作为一种优选，胶垫和胶片均与凸形块粘合。

作为一种优选，中间凸块的左右居中位置为中心对称面，配重以中心对称面为中心左右对称布置。

作为一种优选，配重的总重量大于等于220克。

钢琴键子触感测量方法，采用钢琴键子触感测量块，将钢琴键子触感测量块摆放在键子的前端上，利用钢琴键子触感测量块的重力将键子压到最低位置；从左往右或从右往左依次测量每个键子；当从左往右测量时，以左平面为基准，比较左平面与各个下压键子左侧键子的上端的间隙；当从右往左测量时，以右平面为基准，比较右平面与各个下压键子右侧键子的上端的间隙；依据间隙判断键子是过深、适中还是过浅。

作为一种优选，当中间凸块的斜面与键子贴合使得键子下沉至最低位置时，左平面或右平面与对应键子贴合则为下沉键子深度适中，左平面或右平面的前端与对应键子留有空隙则为下沉键子深度过浅，左平面或右平面的前端与对应键子接触而后端留有空隙则为下沉键子深度过深；记录过深和过浅的键子位置为键子深度调整做准备。

本发明的原理是：