[发明专利]一种裂纹探测系统及其探测方法有效
| 申请号: | 201510867205.4 | 申请日: | 2015-12-01 |
| 公开(公告)号: | CN105334235B | 公开(公告)日: | 2019-02-01 |
| 发明(设计)人: | 兰毓华;王峰;吕志刚 | 申请(专利权)人: | 兰毓华 |
| 主分类号: | G01N23/00 | 分类号: | G01N23/00 |
| 代理公司: | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人: | 黄威;喻嵘 |
| 地址: | 100097 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 裂纹 探测 系统 及其 方法 | ||
本发明提供了一种裂纹探测系统,其包括安装于待检测构件上的裂纹传感器和与其通信连接的无线探测仪,其中,所述无线探测仪配置为向所述裂纹传感器发送电磁波以向其发送查询信号和电能,并根据其是否接收到与所述查询信号相对应的答复信号判断所述构件上是否存在裂纹;所述裂纹传感器配置为检测所述构件上是否存在裂纹,且当其检测为所述构件上不存在裂纹时,向所述无线探测仪发送与所述查询信号相对应的答复信号;当其检测为所述构件上存在裂纹时,不向所述无线探测仪发送信号。本发明所提供的裂纹探测系统具有方便安装且不需要外供电源,检测精度高的特点。
技术领域
本发明涉及结构裂纹检测领域,特别是一种裂纹探测系统及其探测方法。
背景技术
目前国内外对结构裂纹检测通常使用以下技术和方法:
1、液体渗透法渗透检测(PT)是在金属表面涂上具有浸透性的某种有色液体,擦拭以后,由于在裂纹中残留有液体,故能显示出裂纹。主要用于铸造/锻压零件的检测。
2、磁性粒子法磁性粒子检测(MT)是利用磁粉的细粒,在进入由于裂纹而引起的漏磁场时,就会被吸住留下,由于漏磁场比裂纹宽,故积聚的磁粉用肉眼容易看出。常用于铸件、锻造件、滚轧钢板、热处理件的检测。
3、涡流检测法此法是利用涡流裂纹探测器进行的。其原理是探测器接触裂纹时,使探测器线圈的阻抗减弱而取得电压上的变化,即在仪器刻度盘上显示出相应数值或发出报警声。同样还能利用涡流法来测量裂纹的深度值。
4、射线检测法射线检测(RT),常用易于穿透物质的χ、γ射线。当射线在穿透物体过程中,由于受到吸收和散射,使强度减弱,其衰减的程度与物体厚度、材料的性质及射线的种类有关,因此当物体有气孔等体积缺陷时,射线就容易通过。反之,若混有吸收射线的异物夹杂时,射线就难以通过。用强度均匀的射线照射所检测的物体,使透过的射线在照像底片上感光,通过对底片的观察来确定缺陷种类、大小和分布状况,按照相应的标准来评价缺陷的危害程度。但此法费用较高,操作人员要做好防护,以免受伤害。
5、超声波探伤法超声波检测(UT)是利用发射的高频超声波(1~10MHz)射入到被检测物的内部,如遇到内部缺陷则一部分人射的超声波在缺陷处被反射或衰减,然后经探头接收后再放大,由显示的波形来确定缺陷的部位及其大小,再根据相应的标准来评定缺陷的危害程度。适用于平面不连续瑕疵的检测,操作要求高,必须由专业人员才能操作。
并且,以上几种裂纹检测方法都是将结构部件从机器或设备上拆卸下来或进行除漆、打磨等处理,然后再进行裂纹探测,属于事后离线检测,不能及时发现裂纹,而且操作过程也比较复杂。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种采用无线通信方式且不需要外供电源的裂纹探测系统及其探测方法。
为了解决上述技术问题,本发明采用了如下技术方案:
一种裂纹探测系统,其包括安装于待检测的构件上的裂纹传感器和与其通信连接的无线探测仪,其中,
所述无线探测仪配置为向所述裂纹传感器发送电磁波以向其发送查询信号和电能,并根据其是否接收到与所述查询信号相对应的答复信号判断所述构件上是否存在裂纹;
所述裂纹传感器配置为检测所述构件上是否存在裂纹,且当其检测为所述构件上不存在裂纹时,向所述无线探测仪发送与所述查询信号相对应的答复信号;当其检测为所述构件上存在裂纹时,不向所述无线探测仪发送信号。
作为优选,所述裂纹传感器包括贴合在待检测的构件上的裂纹感知器,以及与其电连接的第一无线收发单元,所述第一收发单元配置为与所述无线探测仪通信连接,以接收所述电磁波并发送所述答复信号。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于兰毓华,未经兰毓华许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510867205.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于液体饮品特征值识别液体饮品真伪的方法
- 下一篇:一种光学检测仪





