[发明专利]一种非球面方程的测量方法在审

专利信息
申请号: 201510865940.1 申请日: 2015-12-01
公开(公告)号: CN105547179A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 高松涛;苗二龙;武东城;隋永新;杨怀江 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 130000 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 球面 方程 测量方法
【权利要求书】:

1.一种非球面方程的测量方法,其特征在于,包括:

1)利用移相干涉仪测量被测非球面的环形面形图,利用测距干涉仪测 量被测非球面距离上一环形面形图测量点的相对位移量;

2)依据所述移相干涉仪测量的环形面形图,计算获得在测量点对应的 “零条纹”半径;

3)依据所述“零条纹”半径、所述测距干涉仪测量的相对位移量以及 非球面方程的导数表达式,采用迭代优化法计算出被测非球面的方程。

2.按照权利要求1所述非球面方程的测量方法,其特征在于,所述依 据所述移相干涉仪测量的环形面形图,计算获得在测量点对应的“零条纹” 半径,包括:

如果环形干涉条纹与图像中心点不连通,在环形面形图上采用数值微 分法计算出满足阈值要求的坐标,而后采用最小二乘法计算获得在测量点 对应的“零条纹”半径;

如果环形干涉条纹与图像中心点连通,采用Zernike的离焦和球差拟合 法,计算获得在测量点对应的“零条纹”半径。

3.按照权利要求2所述非球面方程的测量方法,其特征在于,所述采 用Zernike的离焦和球差拟合法,计算获得在测量点对应的“零条纹”半径 公式为:

ρi=3a2-a16a2]]>

其中,a1表示离焦系数,a2表示球差系数,且所述a1和a2可通过对环形 面形图进行Zernike拟合获得。

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