[发明专利]角度测量系统

说明书

技术领域

本发明涉及测量工具，具体涉及角度测量系统。

背景技术

圆角量角器，作为一种新型的测量工具，具有优异的可操作性能，可直接读数测量圆角角度、测量平行及垂直等状态。同时可以测量V型槽、燕尾槽等结构形态。而在传统角度测量工具市场中，大多功能单一，只能测量平面内实物的结构角度。目前市场中，较为先进的角度测量工具，主要有以下几种：

其一，实交点角度测量仪。它适用于角度两边有实交点的情况下的实物测量。如果所测角度两边的交点为虚交点，该量角器边不能直接使用。实际过程中，往往需要进行放样，才能最终检测。同时，该量角器不能检测两物体是否平行或垂直。

其二，万能角度尺。该测量仪使用内置陀螺仪，可以测量角度。此时需要将物体倒置，使角度方向为重力方向，即可检测。但使用该量角器测量上述角度时，麻烦繁琐，过程还需要计算。对复杂机构上的角度测量就无能无力。

以上量角器均不能满足快速、简便测量的要求。

为此，期望寻求一种技术方案，以至少减轻上述问题。

发明内容

本发明要解决的技术问题是，提供一种测量速度快、操作简便的角度测量系统。

为解决上述技术问题，采用下述技术方案。

一种角度测量系统，包括：

连接件；

第一构件，其包括第一工作面或第一工作线，其设置于所述连接件并使所述第一工作面或第一工作线相对于第一基准线绕第一轴线旋转；

第一测量指示组件，用于测量并指示所述第一工作面或第一工作线相对于所述第一基准线绕所述第一轴线旋转的角度；

第二构件，其包括第二工作面或第二工作线，其设置于所述连接件并使所述第二工作面或第二工作线相对于第二基准线绕第二轴线旋转；以及

第二测量指示组件，用于测量并指示所述第二工作面或第二工作线相对于所述第二基准线绕所述第二轴线旋转的角度；

其中，所述第一轴线与所述第二轴线彼此平行。

所述第一测量指示组件包括第一主测量指示单元，所述第一主测量指示单元包括设置于所述第一构件的第一角度主刻度及设置于所述连接件的与该第一构件的第一角度主刻度配合的所述第一基准线。

所述第一测量指示组件包括具有第二角度主刻度的并随所述第一构件绕第一轴线旋转的第一刻度盘及设置于所述连接件并与所述第一刻度盘的第二角度主刻度配合的第一游标角度刻度。

所述第二测量指示组件包括第二主测量指示单元，所述第二主测量指示单元包括设置于所述第二构件的第三角度主刻度及设置于所述连接件的与该第二构件的第三角度主刻度配合的所述第二基准线。

所述第二测量指示组件包括具有第四角度主刻度并随所述第二构件绕第二轴线旋转的第二刻度盘及设置于所述连接件并与所述第二刻度盘的第四角度主刻度配合的第二游标角度刻度。

所述连接件包括与所述第一构件连接的第一部分及与所述第二构件连接的通过导轨副与该第一部分连接的第二部分。

所述连接件包括与所述第一构件连接的第一部分及与所述第二构件连接的并通过铰链与该第一部分铰接的第二部分，且该铰链的轴线与所述第一轴线平行。

所述连接件为直尺。

所述第一测量指示组件还包括第一副测量指示单元，所述第一副测量指示单元包括具有第一角度副刻度并随所述第一构件绕第一轴线旋转的第一副刻度盘及设置于所述连接件并与所述第一副刻度盘的第一角度副刻度配合的第一基准刻度线。

所述第二测量指示组件还包括第二副测量指示单元，所述第二副测量指示单元包括具有第二角度副刻度并随所述第二构件绕第二轴线旋转的第二副刻度盘及设置于所述连接件并与所述第二副刻度盘的第二角度副刻度配合的第二基准刻度线；

所述导轨副为直线导轨副。

所述第一构件的角度刻度的精度为1°，所述第一副刻度盘的角度刻度的精度为0.1°。

所述第二构件的角度刻度的精度为1°，所述第二副刻度盘的角度刻度的精度为0.1°。

所述第二部分为直尺。

还包括通过自身传感器测量所述第一工作面或第一工作线相对于所述第一基准线绕所述第一轴线旋转角度并显示所测角度的第一电子测量显示设备。

还包括通过自身传感器测量所述第二工作面或第二工作线相对于所述第二基准线绕所述第二轴线旋转角度并显示所测角度的第二电子测量显示设备。

本发明具有下述有益技术效果。