[发明专利]一种IC卡芯片划痕面积及灰度参量的高精度测量方法

说明书

本发明提出一种IC卡芯片划痕面积及灰度参量的高精度测量方法，包括7个步骤；划痕检测前，通过CCD采集干净无划痕购电卡芯片作为标准基图，将另外取干净无划痕购电卡，插入卡槽进行插拔试验，通过CCD扫描待测购电卡，与基图比较，分析出不同之处即是划痕信息，用一定的算法对划痕信息进行分析，达到划痕定量检测的目的。有益的技术效果：通过本发明能够克服人眼观察、评价的标准不一致、人工误差大等问题，基于数字图像处理基础上，利用BLOB算法，计算划痕面积及灰度参量，精确、快速、定量的分析购电卡划痕程度。

技术领域

本发明属于设图像检测技术领域，具体涉及一种IC卡芯片划痕面积及灰度参量的高精度测量方法。

背景技术

随着智能电表的广泛推广，本地费控模式对电价回收起了重要作用，每块本地费控电表均配备一张居民持有的购电卡，作为缴费及充值介质，电表内置卡槽，购电卡插入卡槽后进行数据交互。由于卡槽弹簧生产厂家较多，材质、弹簧压力等因素均不相同，因此可能造成卡槽弹簧对插入购电卡芯片产生划痕磨损，深程度的划痕磨损将导致对购电卡芯片破坏性损坏，用户将无法购电。根据国家电网公司智能电能表企业标准宣贯标准规范规定的卡座机械及结构要求，干净卡面的购电卡在卡槽中连续插拔20次，购电卡触点应无划痕。但是一直以来，智能电表购电卡的芯片磨损检测是通过人眼视觉判断，判断结果没有科学的数据支撑。如何快速、准确地评定购电卡芯片划痕程度，从而判断卡槽性能，成为了一个重要问题。

发明内容

本发明提出一种IC卡芯片划痕面积及灰度参量的高精度测量方法，基于数字图像处理基础上，利用BLOB算法，计算划痕面积及灰度参量，定量的分析购电卡划痕程度的方法。本发明具体如下：

一种IC卡芯片划痕面积及灰度参量的高精度测量方法，按如下步骤进行：

步骤1：准备两张购电卡芯片，将其中一张作为标准样卡，将另一张作为检测用芯片。将标准样卡与检测用芯片均清洗干净。

步骤2：将检测用芯片放入智能电表卡槽中进行N次连续的插拔，N的取值范围在10至10000之间。通过CCD分别对标准样卡、经过N次插拔的检测用芯片进行光学成像。

步骤3：将CCD对标准样卡的光学成像结果进行图像捕捉，存为标准基图。将CCD对经过N次插拔的检测用芯片的光学成像结果进行图像捕捉，存为检测用图像。

步骤4：分别对标准基图、检测用图像进行数字化处理。

步骤5：分别对经过数字化处理的标准基图、检测用图像进行图像特征提取。

步骤6：将经过图像特征提取的检测用图像与经过图像特征提取的标准基图比对，寻找和判断两者间的差异，获取经过N次插拔后的检测用芯片所存在的差异类型：线差异、面差 异。

步骤7：输出结果。

有益的技术效果

本文提出的购电卡划痕差异，是指待检购电卡芯片表面相对于干净无划痕的购电卡芯片表面之间的划痕差异，即与芯片无划痕购电卡有不匹配区域则认为存在划痕。因此可理解为购电卡划痕即使待测购电卡芯片与标准干净购电卡芯片表面有图像上的形状差异。

根据卡槽弹簧的特点，综合各种划痕的特征，将差异分为2类，见表1。

本发明的检测流程如下：划痕检测前，通过CCD采集干净无划痕购电卡芯片作为标准基图，将另外取干净无划痕购电卡，插入卡槽进行插拔试验，通过CCD扫描待测购电卡，与基图比较，分析出不同之处即是划痕信息，用一定的算法对划痕信息进行分析，达到划痕定量检测的目的。