[发明专利]一种用于紫外灯下测量荧光显示的刻度尺

说明书

技术领域

本发明涉及测量荧光显示的工具结构领域，特别涉及了一种用于紫外灯下测量荧光显示的刻度尺。

背景技术

在对零件进行荧光检测时，需要在零件表面施加一定的可激发荧光的物质，当零件表面存在缺陷时，这些荧光物质最终会有一部分残留下来，在紫外灯下会发出荧光，此时需要测量缺陷，即荧光显示的尺寸大小，由于所处的测量环境的环境白光很弱，唯一的光源就是紫外线灯。常规的方法是用记号笔在紫外灯下标记缺陷后，再打开日光灯使用尺子测量，这样不仅测量效率低，而且测量误差较大。

发明内容

本发明的目的是为了避免现有测量方法的弊端，实现荧光显示的快速准确测量，特提供了一种用于紫外灯下测量荧光显示的刻度尺。

本发明提供了一种用于紫外灯下测量荧光显示的刻度尺，其特征在于：所述的用于紫外灯下测量荧光显示的刻度尺，包括封包条1，通孔2，增透膜3，透明硬质条4，透明软质条5，刻度尺6；

其中：封包条1箍紧透明硬质条4和透明软质条5，透明硬质条4的端部带有通孔2；增透膜3贴紧在透明硬质条4的表面，透明软质条贴紧在5透明硬质条4的背面；透明硬质条4的背面还粘有刻度尺6。

所述的封包条1的个数为1或2个。

所述的封包条1为U型槽结构。

能够在紫外线灯下发出荧光的刻度尺，可以实现荧光显示的直接测量，使用起来非常方便。条状透明基体两面均为光滑面，其中一面一端带有一定的台阶突起。带台阶一面与透明软纸的刻度图案面粘贴。所述封包条作为边框用于包紧透明基体和透明软纸。突起的台阶端不使用封包条，并可根据使用需要将方形尖角打磨掉。在封包条适当部位钻孔以方便悬挂或携带。

本发明的优点：

本发明所述的用于紫外灯下测量荧光显示的刻度尺，在紫外线灯下具有荧光效果，可以准确测量荧光显示的尺寸，刻度图案被保护起来，不会被直接接触到，不会产生刻度磨损问题，同时由于透明软纸非常薄，刻度挨近所测显示，不会产生倾角读数误差。总的来说本发明实用性较好，易于推广应用，具有较大实用价值。

附图说明

下面结合附图及实施方式对本发明作进一步详细的说明：

图1为用于紫外灯下测量荧光显示的刻度尺结构示意图。

具体实施方式

实施例1

本实施例型提供了一种用于紫外灯下测量荧光显示的刻度尺，其特征在于：所述的用于紫外灯下测量荧光显示的刻度尺，包括封包条1，通孔2，增透膜3，透明硬质条4，透明软质条5，刻度尺6；

其中：封包条1箍紧透明硬质条4和透明软质条5，透明硬质条4的端部带有通孔2；增透膜3贴紧在透明硬质条4的表面，透明软质条贴紧在5透明硬质条4的背面；透明硬质条4的背面还粘有刻度尺6。

所述的封包条1的个数为1个。

所述的封包条1为U型槽结构。

能够在紫外线灯下发出荧光的刻度尺，可以实现荧光显示的直接测量，使用起来非常方便。条状透明基体两面均为光滑面，其中一面一端带有一定的台阶突起。带台阶一面与透明软纸的刻度图案面粘贴。所述封包条作为边框用于包紧透明基体和透明软纸。突起的台阶端不使用封包条，并可根据使用需要将方形尖角打磨掉。在封包条适当部位钻孔以方便悬挂或携带。

实施例2

本实施例提供了一种用于紫外灯下测量荧光显示的刻度尺，其特征在于：所述的用于紫外灯下测量荧光显示的刻度尺，包括封包条1，通孔2，增透膜3，透明硬质条4，透明软质条5，刻度尺6；

其中：封包条1箍紧透明硬质条4和透明软质条5，透明硬质条4的端部带有通孔2；增透膜3贴紧在透明硬质条4的表面，透明软质条贴紧在5透明硬质条4的背面；透明硬质条4的背面还粘有刻度尺6。

所述的封包条1的个数为2个。

所述的封包条1为U型槽结构。

能够在紫外线灯下发出荧光的刻度尺，可以实现荧光显示的直接测量，使用起来非常方便。条状透明基体两面均为光滑面，其中一面一端带有一定的台阶突起。带台阶一面与透明软纸的刻度图案面粘贴。所述封包条作为边框用于包紧透明基体和透明软纸。突起的台阶端不使用封包条，并可根据使用需要将方形尖角打磨掉。在封包条适当部位钻孔以方便悬挂或携带。

实施例3

本实施例提供了一种用于紫外灯下测量荧光显示的刻度尺，其特征在于：所述的用于紫外灯下测量荧光显示的刻度尺，包括封包条1，通孔2，增透膜3，透明硬质条4，透明软质条5，刻度尺6；