[发明专利]一种基于弹光调制的高速光学层析扫描装置及方法在审

专利信息
申请号: 201510796552.2 申请日: 2015-11-18
公开(公告)号: CN105445188A 公开(公告)日: 2016-03-30
发明(设计)人: 景宁;陈友华;王志斌;张瑞;李克武 申请(专利权)人: 中北大学
主分类号: G01N21/00 分类号: G01N21/00
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人: 申绍中
地址: 030051 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 调制 高速 光学 层析 扫描 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种基于弹光调制的高速光学层析扫描装置,其特征在于:包括低相干光源(1)、分光器(2)、弹光调制器(3)和探测器(5),所述低相干光源(1)和分光器(2)及待测样品(4)位于同一光路上,所述弹光调制器(3)、分光器(2)和探测器(5)位于同一光路上,上述两个光路相互正交。

2.根据权利要求1所述的一种基于弹光调制的高速光学层析扫描装置,其特征在于:所述弹光调制器(3)的调制速度可达到50kHz。

3.根据权利要求1所述的一种基于弹光调制的高速光学层析扫描装置,其特征在于:所述弹光调制器(3)包括硒化锌晶体(7)和压电石英(8),所述压电石英(8)驱动硒化锌晶体(7)振动产生弹光效应达到对红外光的调制作用。

4.根据权利要求3所述的一种基于弹光调制的高速光学层析扫描装置,其特征在于:所述硒化锌晶体(7)一侧的通光面上镀有金膜(9)。

5.一种基于弹光调制的高速光学层析扫描方法,其特征在于:低相干光源(1)发出的红外探测光经分光器(2)分成两束,一束探测光入射到弹光调制器(3),经弹光调制器(3)调制后反射,为调制光;另一束探测光入射到待测样品(4),探测光在待测样品(4)传输过程中会不断向后反射,为探测光;调制光与探测光共同入射到探测器(5)上,当调制光与探测光的光程差相等时,待测样品(4)相应深度的反射强度将会被探测器(5)得到;通过调制弹光调制器(3),可以得出待测样品(4)各个深度上的反射率,完成高速层析扫描。

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