[发明专利]适用于TBC脱粘缺陷快速检测线激光扫描热波成像方法在审
| 申请号: | 201510794804.8 | 申请日: | 2015-11-18 |
| 公开(公告)号: | CN105301051A | 公开(公告)日: | 2016-02-03 |
| 发明(设计)人: | 刘战伟;石文雄;朱文颖;谢惠民 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
| 主分类号: | G01N25/72 | 分类号: | G01N25/72 |
| 代理公司: | 北京市天玺沐泽专利代理事务所(普通合伙) 11532 | 代理人: | 鲍晓 |
| 地址: | 100081 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 适用于 tbc 缺陷 快速 检测 激光 扫描 成像 方法 | ||
1.一种适用于TBC脱粘缺陷快速检测线激光扫描热波成像方法,其特征在于,包括:
优化设计快速移动的线激光作为线状热源,使用所述线状热源在TBC试件表面进行扫描激励,在粗扫检测阶段对试件表面进行大范围线状快速扫描,采集获得粗扫检测阶段的热红外图像,并进行热红外图像分析;对于发现疑似缺陷的微区域进行细扫描,获得细扫检测阶段的热红外图像;
对于所述粗扫检测阶段的热红外图像:
进行热红外图像后处理,得到全场范围的缺陷响应温度场图像和全场范围的去除噪音热响应后的缺陷响应温度场图像;采用自适应变权重滤窗方法,得到全场范围去除包括边缘噪音在内所有噪音影响的缺陷响应温度场图像;
对于所述细扫检测阶段的热红外图像:
按照瞬态微面热源脉冲激励的处理方法,对采集到的某时间序列内的温度图像进行傅里叶变换,得到微区域内给定频率下的仅含缺陷响应的振幅场和相位场。
2.根据权利要求1所述一种适用于TBC脱粘缺陷快速检测线激光扫描热波成像方法,其特征在于,
所述得到全场范围的缺陷响应温度场图像,进一步为:
构造沿线激光方向整体平均的全场定向载波温度场,从原始热红外图像中减去全场定向载波温度场,得到噪音减弱且仅含有缺陷响应的温度场图像,对所有时刻的仅含有缺陷响应温度场图像叠加,得到所述全场范围的缺陷响应温度场图像。
3.根据权利要求1所述一种适用于TBC脱粘缺陷快速检测线激光扫描热波成像方法,其特征在于,
得到全场范围的去除噪音热响应后的缺陷响应温度场图像,进一步为:
用所述粗扫检测阶段的热红外图像减去没有热源激励的初始图像,采用在热源附近加窗三时刻求振幅、去除噪音热响应的方法进行后处理,将所有时刻在特定窗口内的响应振幅场进行叠加,得到所述全场范围的去除噪音热响应后的缺陷响应温度场图像。
4.根据权利要求1所述一种适用于TBC脱粘缺陷快速检测线激光扫描热波成像方法,其特征在于,
所述优化设计快速移动的线激光作为线状热源,进一步为:优化使用激光打标机,电流控制在10A,在TBC试件表面汇聚出红色的直径在300微米的激光点,控制激光点以直线方向1000mm/s以上的速度做线状移动,并以垂直于移动方向进行扫描。
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