[发明专利]一种射频相对姿态敏感器测试装置及其测试方法在审

专利信息
申请号: 201510789511.0 申请日: 2015-11-17
公开(公告)号: CN105277918A 公开(公告)日: 2016-01-27
发明(设计)人: 杨昕欣;孙永磊;于正泉;张娜 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01S5/02 分类号: G01S5/02
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;顾炜
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 射频 相对 姿态 敏感 测试 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种射频相对姿态敏感器测试装置,其特征在于:包括两个平板、导轨和天线,其中一个平板位于平面ABCD上,另一个平板位于平面EFGH上,两个平板用来放置天线,与平面ABCD和平面EFGH相交的Y轴上放置导轨,位于平面ABCD上的平板固定在导轨的一端,位于平面EFGH上的平板能沿着导轨移动。

2.根据权利要求1所述的一种射频相对姿态敏感器测试装置,其特征在于:该装置天线布局:将天线安装于两个平面上,天线的安装位置不可共线。

3.根据权利要求1所述的一种射频相对姿态敏感器测试装置,其特征在于:通过平面上的特殊点确定两个坐标系之间的初始相对关系:以其中一个平面为本体坐标系,另一个平面为移动坐标系。

4.一种射频相对姿态敏感器测试方法,其特征在于:包括如下步骤:

步骤1)将敏感器上的天线分别安装在两个平面上;

步骤2)通过几何关系计算两个平面之间的相对关系;

步骤3)计算发射和接收天线之间的初始距离;

步骤4)移动某一平面后,通过平面移动的增量计算天线移动的增量,验证敏感器测得的天线移动的增量是否正确;

步骤5)通过天线之间的测距量计算两个平面之间的相对姿态关系,并与步骤2)中的结果对比。

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