[发明专利]一种基于阻变存储单元RRAM的存储单元及存储方法有效
申请号: | 201510786327.0 | 申请日: | 2015-11-16 |
公开(公告)号: | CN105261392A | 公开(公告)日: | 2016-01-20 |
发明(设计)人: | 王小光;韩小炜 | 申请(专利权)人: | 西安华芯半导体有限公司 |
主分类号: | G11C13/00 | 分类号: | G11C13/00 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 张倩 |
地址: | 710055 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 存储 单元 rram 方法 | ||
1.一种基于阻变存储单元RRAM的存储单元,其特征在于:包括敏感放大器、参考电阻电路以及数据通路;
所述敏感放大器的一端连接RRAM,另一端连接参考电阻电路,敏感放大器根据两端电阻阻值感应出q端信号和qb端信号,使敏感放大器最终在高电压态或低电压态,实现对数据的锁存;
所述参考电阻电路用于向敏感放大器提供一个参考电阻;
所述数据通路用于通过输出端口fuseq实现输出数据的0、1输出。
2.根据权利要求1所述的基于阻变存储单元RRAM的存储单元,其特征在于:所述敏感放大器为互相反馈串联的环路反相器,所述敏感放大器的输入端与RRAM的位线连接。
3.根据权利要求2所述的基于阻变存储单元RRAM的存储单元,其特征在于:所述参考电阻电路由阻值固定的电阻单元和NMOS三级管串联组成,所述参考电阻电路连接在敏感放大器(sense)的输出端。
4.根据权利要求1或2或3所述的基于阻变存储单元RRAM的存储单元,其特征在于:所述数据通路包括上拉电路和下拉电路,
所述上拉电路包括通过漏端连接的PMOS管P1和PMOS管P2,其中PMOS管P2为弱上拉管;所述PMOS管P1的栅端连接数据输出使能en,所述PMOS管P2的漏端连接输出端口fuseq;
所述下拉电路包括通过漏端连接的NMOS管n1和NMOS管n2,所述NMOS管n2的栅端连接qb端,所述NMOS管n1的栅端连接数据输出使能en,所述NMOS管n1的源端与PMOS管P1的漏端连接。
5.根据权利要求4所述的基于阻变存储单元RRAM的存储单元,其特征在于:所述参考电阻电路提供的参考电阻位于RRAM的高阻值和低阻值之间。
6.一种基于阻变存储单元RRAM的存储方法,其特征在于:包括如下步骤:
1】阻变操作:
对RRAM进行编程和擦除操作,RRAM即实现低阻阻变或高阻阻变,RRAM的可变电阻Rcell将固定的保持在高阻值或低阻值状态;
2】初始化数据操作:
将RRAM的字线wl打开,将敏感放大器的q端信号和qb端信号下拉到地,实现对敏感放大器两端信号的复位初始化;
3】数据感应操作
开通敏感放大器工作,同时参考电阻电路开始工作提供一个参考电阻,经过敏感放大器的q端信号和qb端信号产生竞争:
电阻较小的一端会被下拉至地,另一端相应的变为高电平;
最终会保持在高电压态或低电压态,实现对数据的存储;
4】存储数据的输出:
通过数据通路将存储数据传输至输出端口fuseq。
7.根据权利要求6所述的基于阻变存储单元RRAM的存储方法,其特征在于:参考电阻电路提供的参考电阻阻止位于RRAM的高阻值和低阻值之间。
8.根据权利要求7所述的基于阻变存储单元RRAM的存储方法,其特征在于:步骤3】具体为
当RRAM阻变值为高阻时,经过数据感应后,阻值较小的qb端信号变为0,而q端变为高电平;
当RRAM阻变为低阻时,阻值较小的q端信号变为0,qb端信号则为高电平。
9.根据权利要求8所述的基于阻变存储单元RRAM的存储方法,其特征在于:
步骤4】具体为:
当数据输出使能en无效时,输出端口fuseq会被导通的PMOS管P1上拉至高电平,输出端口fuseq保持缺省数据1,此时P2管也导通上拉;
当数据输出使能信号en有效时,NMOS管n1导通,PMOS管P1关断,NMOS管n2的状态取决于来自敏感放大器的qb信号:
若qb为高电平,则NMOS管n2导通,输出端口fuseq到地的通路即导通,输出端口fuseq被下拉到地,输出端口fuseq由缺省数据1变为数据0,同时PMOS管p2关断;
反之若qb为低电平,则NMOS管n2不导通,此时输出端口fuseq依旧保持缺省数据1,同时PMOS管P2保持上拉导通,输出端口fuseq继续保持数据1。
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