[发明专利]一种基于阻变存储单元RRAM的存储单元及存储方法有效

专利信息
申请号: 201510786327.0 申请日: 2015-11-16
公开(公告)号: CN105261392A 公开(公告)日: 2016-01-20
发明(设计)人: 王小光;韩小炜 申请(专利权)人: 西安华芯半导体有限公司
主分类号: G11C13/00 分类号: G11C13/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 张倩
地址: 710055 陕西省西安*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 存储 单元 rram 方法
【权利要求书】:

1.一种基于阻变存储单元RRAM的存储单元,其特征在于:包括敏感放大器、参考电阻电路以及数据通路;

所述敏感放大器的一端连接RRAM,另一端连接参考电阻电路,敏感放大器根据两端电阻阻值感应出q端信号和qb端信号,使敏感放大器最终在高电压态或低电压态,实现对数据的锁存;

所述参考电阻电路用于向敏感放大器提供一个参考电阻;

所述数据通路用于通过输出端口fuseq实现输出数据的0、1输出。

2.根据权利要求1所述的基于阻变存储单元RRAM的存储单元,其特征在于:所述敏感放大器为互相反馈串联的环路反相器,所述敏感放大器的输入端与RRAM的位线连接。

3.根据权利要求2所述的基于阻变存储单元RRAM的存储单元,其特征在于:所述参考电阻电路由阻值固定的电阻单元和NMOS三级管串联组成,所述参考电阻电路连接在敏感放大器(sense)的输出端。

4.根据权利要求1或2或3所述的基于阻变存储单元RRAM的存储单元,其特征在于:所述数据通路包括上拉电路和下拉电路,

所述上拉电路包括通过漏端连接的PMOS管P1和PMOS管P2,其中PMOS管P2为弱上拉管;所述PMOS管P1的栅端连接数据输出使能en,所述PMOS管P2的漏端连接输出端口fuseq;

所述下拉电路包括通过漏端连接的NMOS管n1和NMOS管n2,所述NMOS管n2的栅端连接qb端,所述NMOS管n1的栅端连接数据输出使能en,所述NMOS管n1的源端与PMOS管P1的漏端连接。

5.根据权利要求4所述的基于阻变存储单元RRAM的存储单元,其特征在于:所述参考电阻电路提供的参考电阻位于RRAM的高阻值和低阻值之间。

6.一种基于阻变存储单元RRAM的存储方法,其特征在于:包括如下步骤:

1】阻变操作:

对RRAM进行编程和擦除操作,RRAM即实现低阻阻变或高阻阻变,RRAM的可变电阻Rcell将固定的保持在高阻值或低阻值状态;

2】初始化数据操作:

将RRAM的字线wl打开,将敏感放大器的q端信号和qb端信号下拉到地,实现对敏感放大器两端信号的复位初始化;

3】数据感应操作

开通敏感放大器工作,同时参考电阻电路开始工作提供一个参考电阻,经过敏感放大器的q端信号和qb端信号产生竞争:

电阻较小的一端会被下拉至地,另一端相应的变为高电平;

最终会保持在高电压态或低电压态,实现对数据的存储;

4】存储数据的输出:

通过数据通路将存储数据传输至输出端口fuseq。

7.根据权利要求6所述的基于阻变存储单元RRAM的存储方法,其特征在于:参考电阻电路提供的参考电阻阻止位于RRAM的高阻值和低阻值之间。

8.根据权利要求7所述的基于阻变存储单元RRAM的存储方法,其特征在于:步骤3】具体为

当RRAM阻变值为高阻时,经过数据感应后,阻值较小的qb端信号变为0,而q端变为高电平;

当RRAM阻变为低阻时,阻值较小的q端信号变为0,qb端信号则为高电平。

9.根据权利要求8所述的基于阻变存储单元RRAM的存储方法,其特征在于:

步骤4】具体为:

当数据输出使能en无效时,输出端口fuseq会被导通的PMOS管P1上拉至高电平,输出端口fuseq保持缺省数据1,此时P2管也导通上拉;

当数据输出使能信号en有效时,NMOS管n1导通,PMOS管P1关断,NMOS管n2的状态取决于来自敏感放大器的qb信号:

若qb为高电平,则NMOS管n2导通,输出端口fuseq到地的通路即导通,输出端口fuseq被下拉到地,输出端口fuseq由缺省数据1变为数据0,同时PMOS管p2关断;

反之若qb为低电平,则NMOS管n2不导通,此时输出端口fuseq依旧保持缺省数据1,同时PMOS管P2保持上拉导通,输出端口fuseq继续保持数据1。

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