[发明专利]用于视频云应用的非易失性存储器芯片测试和使用方法

说明书

本发明公开了一种用于视频云应用的非易失性存储器芯片测试和使用方法，前端视频监控器实现视频采集和录制，而云平台负责控制管理和视频回放。视频云应用中的存储器对数据保持时间要求低；对数据随机写性能要求低，数据是以连续写入占主导的；对数据读性能要求低，数据存储后被读取的概率是比较低的；对数据存储的质量要求较低。根据上述特点，本发明提出一种在视频云应用中降低非易失性存储器成本的测试和使用方法，重新利用那些在测试过程中不满足任一测试条件的非易失性存储器芯片，并用于视频云应用中的大容量存储设备。重新利用这些本该被丢弃的非易失性存储器芯片不仅大大降低视频云应用中非易失性存储器芯片成本，而且还可以减少环境污染。

技术领域

本发明涉及视频云存储领域，尤其涉及一种用于视频云应用的非易失性存储器芯片测试和使用方法。

背景技术

非易失性存储器是一种断电后仍能保存数据的非易失性固态存储技术，它具有了低功耗、读写速度快等优越性，被广泛的应用于移动终端设备(称之为a类应用)和数据中心领域(称之为b类应用)等。不同领域的应用对非易失性存储器的性能要求也不一样。比如a类应用对非易失性存储器的数据保持时间(data retention)至少要大于5年，而b类应用对非易失性存储器的数据保持时间(data retention)至少要为10年。无论是a类应用还是b类应用，对非易失性存储器芯片随机写性能和读性能要求都很高，对数据存储质量也有很高的要求，如果数据存储质量低，则会影响系统的稳定性。

通常情况下，非易失性存储器晶片(die)在封装出厂前都会经过大量的测试和质量检测。不论最后NAND芯片应用到哪种领域，测试标准、筛选条件都是相同的。只有那些通过了测试流程的NAND晶片才会被封装然后再经过封装后的测试流程，最后只有通过了上面所有测试流程的NAND芯片才会被出售给客户，应用到不同的领域里。如图1所示的是一片NAND晶元(wafer)，这片晶元上的所有非易失性存储器晶片都会经过一系列的测试环节和筛选，最终通过所有测试标准的NAND晶片才会被封装进入封装测试环节，这些合格的NAND晶片才有可能最终应用到移动终端或服务器领域等，而那些不满足任何一项测试标准的NAND晶片将会被丢弃，这不仅是对晶片资源的浪费，同时也会给环境造成污染。晶片良率(yield)就是该片晶元上通过所有测试的非易失性存储器晶片数目与该片晶元上非易失性存储器晶片总数的比值。晶片良率越高，也就意味着制造厂商的生产成本越低，客户的采购价格也越低。但实际上，任何新一代工艺的非易失性存储器产品初期的良率是非常差的，这无疑增加了制造厂商的生产成本，价格一直居高不下使得非易失性存储器无法应用到其他特殊领域中，这也是NAND固态硬盘无法取代机械硬盘(HDD)存储的主要原因。

视频云应用(称之为c类应用)是另一种需要大容量存储的应用领域，比如，安保监控系统。相比a类和b类应用，这种应用对存储器的保持时间要求要低得多，可能只需要半年、30天或更短的一个星期等，也很少会对存储器进行随机写操作和读操作，只有发生了异常情况才会调取存储器进行读操作，对存储器的存储质量要求也很低。比如一个小区内的监控系统，大部分时间特别是夜里，视频中存储了大量无关紧要的数据，比如道路、树叶等，而真正关心的人的行为数据却只占很少的部分。如果该视频中存储的比特流数据发生很少的存储错误，几乎不会影响整个视频的质量。可以看出，视频云应用对存储器的性能要求较低，而对容量要求很高(每个时刻都在产生视频数据)，因此目前市场上几乎都是采用成本更低的机械硬盘，如果采用非易失性存储器固态硬盘，在成本和价格上是视频云供应商决不能承受的。

综上描述，本发明提出了一种在视频云应用中降低非易失性存储器成本的方法。重新利用那些在测试流程中不满足任一测试条件的NAND芯片，并用于视频云应用中的大容量存储设备。重新利用这些本该被丢弃的NAND芯片不仅大大降低了视频云应用中NAND芯片成本，而且还可以减少环境污染。

发明内容

有鉴于现有技术的上述缺陷，本发明所要解决的技术问题是如何在视频云存储的应用中降低非易失性存储器的使用成本。