[发明专利]发生酸敏的门限温度的获取方法

权利要求书

1.一种发生酸敏的门限温度的获取方法，其特征在于，所述发生酸敏的门限温度的获取方法包括：

在预设实验温度范围内选取n个实验温度点T_i，其中i为1，2…，n；

根据各实验温度点T_i、待测岩样所在地区的平均地表温度T₀及地温梯度Δt，计算各实验温度点对应的地层埋深H_i：

H_i＝(T_i－T₀)/Δt×100；

获取各所述实验温度点T_i对应的地层埋深H_i下的实测地层压力P_i；

将所述待测岩样放入高温高压实验装置的反应釜中，向高温高压实验装置通入有机酸溶液，使所述有机酸溶液在各所述实验温度点T_i及实测地层压力P_i条件下与所述待测岩样反应一预设时间，并获取各所述实验温度点T_i及其对应实测地层压力P_i条件下的实验生成物溶液；

分别对各所述实验温度点T_i及其对应实测地层压力P_i条件下的实验生成物溶液进行电感耦合等离子体发射光谱分析，获取各所述实验温度点T_i及其对应实测地层压力P_i条件下实验生成物溶液中的Si⁴⁺浓度；

根据各个实验温度点的Si⁴⁺浓度绘制出离子浓度随温度变化的曲线，按照实验温度点从小到大的顺序，在所述曲线上判断相邻实验温度点T_i+1与T_i的Si⁴⁺浓度的比值，并以所述比值第一次超过预设值的实验温度点T_i作为发生酸敏的门限温度。

2.根据权利要求1所述的发生酸敏的门限温度的获取方法，其特征在于，使所述有机酸溶液在各所述实验温度点T_i及实测地层压力P_i条件下与所述待测岩样反应一预设时间，包括：调节所述待测岩样的围压与所述实验温度点T_i对应的实测地层压力P_i一致，按照温度从低到高的顺序，控制所述有机酸溶液在各所述实验温度点T_i及实测地层压力P_i条件下与所述待测岩样反应所述预设时间。

3.根据权利要求1所述的发生酸敏的门限温度的获取方法，其特征在于，所述预设实验温度范围为60℃～180℃。

4.根据权利要求1所述的发生酸敏的门限温度的获取方法，其特征在于，所述有机酸溶液为乙酸溶液。

5.根据权利要求4所述的发生酸敏的门限温度的获取方法，其特征在于，所述乙酸溶液的浓度在2000mg/L～5000mg/L范围内。

6.根据权利要求1所述的发生酸敏的门限温度的获取方法，其特征在于，在将所述待测岩样放入高温高压实验装置的反应釜中之前，将所述待测岩样清洗干净并烘干至恒重。

7.根据权利要求1所述的发生酸敏的门限温度的获取方法，其特征在于，所述预设时间不小于两小时。

8.根据权利要求7所述的发生酸敏的门限温度的获取方法，其特征在于，在所述预设时间内，所述反应釜的入口压力与出口压力的差值恒定且大于2.5MPa。

9.根据权利要求1所述的发生酸敏的门限温度的获取方法，其特征在于，所述预设值为2。

10.根据权利要求1-9任一项所述的发生酸敏的门限温度的获取方法，其特征在于，在预设实验温度范围内选取的n个所述实验温度点T_i是均匀选取的。