[发明专利]运算放大器的测试电路

说明书

技术领域

本发明涉及电力电子领域，尤其涉及一种运算放大器的测试电路。

背景技术

目前在运算放大器投入到集成电路的应用过程之前，通常需要对运算放大器进行多参数的测试，在对每一个参数进行测试的过程中，就要提供一个测试电路，如此，则需要多个测试电路，运算放大器要频繁的更换测试电路，这测试人员来说是较为麻烦的，同时由于频繁的更换运算放大器的测试电路，会对运算放大器的造成损坏，测试效率也不高。

发明内容

针对现有技术中存在的问题，本发明提供了一种能够用一个高集成电路即可对运算放大器进行多个参数的测试。

本发明采用如下技术方案

一种运算放大器的测试电路，所述测试电路包括：待测的运算放大器(DUT，以下简称运算放大器)，

第一节点(电阻RJ5与继电器K2之间形成的节点)、第二节点(电阻RJ6与继电器K3之间形成的节点)、第三节点(继电器K19与开关KK16之间形成的节点)和第四节点(继电器K19与开关KK15之间形成的节点)；

所述第一节点与所述第四节点之间连接有第一电阻(RJ5)和第二电阻(RJ1X)，所述第二节点与所述第三节点之间连接有第三电阻(RJ6)和第四电阻(RJ2X)，以作为所述运算放大器输入端的输入电阻；

第一继电器(K19)连接在所述第二电阻(RJ1X)和所述运算放大器的反相输入端之间以及连接在所述第四电阻(RJ2X)和所述运算放大器的正相输入端之间，所述第一继电器控制所述运算放大器接入输入信号；以及

通过第一电压源V5与第二电压源V6对所述运算放大器施加电源电压后，量测所述运算放大器的输出信号，得到测试结果。

优选的，所述第一节点通过第一开关(K1)接地，所述第二节点通过第二开关(K4)接地，以使所述运算放大器能够接入共模输入电压。

优选的，所述第一节点通过第二继电器(K2)与第一电流源(A、B、C、D或表示为V1～V4)连接；所述第二节点通过第三继电器(K3)与所述第一电流源连接，以使所述运算放大器能够接入差模输入电压。

优选的，所述第一节点与一交流信号源(V3)连接，以使所述运算放大器的反相端能够输入交流信号。

优选的，所述第二继电器与所述第三继电器分别与一模拟转换开关连接，所述模拟转换开关对多个模拟量进行模数变换。

优选的，所述第二电阻与第三开关(KK15)并联，所述第四电阻与第四开关(KK16)并联，通过断开或闭合所述第三开关改变所述运算放大器反相端的输入电阻，通过断开或闭合所述第四开关改变所述运算放大器同相端的输入电阻。

优选的，所述第一继电器还与第二电流源连接，所述第二电流源能够在所述运算放大器的同相端施加额定电流，以测试所述同相端产生的电压。

优选的，所述运算放大器的输出端与所述运算放大器的反相端之间连接有第一反馈电阻，以及

所述运算放大器的输出端与所述运算放大器的反相端之间连接有第五开关(K8)，控制反馈回路的通断。

优选的，所述运算放大器的输出端连接有多个负载，所述负载与所述输出端之间均连接有一开关，所述开关控制负载与输出端之间的连接。

优选的，所述运算放大器的输出端连接有一辅助运算放大器，通过测试所述辅助运算放大器的输出信号，得到测试结果；以及

所述运算放大器的输出端与所述辅助运算放大器的同相端之间连接有一电阻和第六开关(K12)，所述第六开关控制所述运算放大器的输出端与所述辅助运算放大器之间的连接。

优选的，所述辅助运算放大器的输出端通过一反馈电阻(RJ4)和第七开关(K7)连接，所述第七开关控制反馈回路的通断。

优选的，所述辅助放大器的输出端连接有第三电流源，所述第三电流源量测所述辅助运算放大器的输出信号。

优选的，所述辅助运算放大器的同相端与所述运算放大器的输出端均与第三电压源(V8)连接，通过设置所述第三电压源的电压，使所述运算放大器的输出电压为设定值。

优选的，所述运算放大器的输出端与第四电压源(V9)连接，所述第四电压源量测所述运算放大器的输出信号。

优选的，所述运算放大器的输出端与第五电压源(V10)连接，所述第五电压源与至少一个电容(CT3和/或CT4)并联，所述电容减小低频信号的通过能力，所述第五电压源量测所述运算放大器的输出电压。