[发明专利]LED灯综合测试仪

说明书

技术领域

本发明涉及一种LED灯综合测试仪。

背景技术

LED光衰测试装置主要在测量LED灯的光通量、光照度、光亮度及LED灯寿命时的一个光衰测试仪器装置，通过光电探测器将被测光信号送入分光仪器或二次仪表，得到光学参数并且通过装置的通讯端口，测试LED灯寿命。但现有的测试装置在测量的过程中由于测试效率低、测量精度差，达不到测试要求。并且所测试的环境也是在指定的环境中进行，其温度也只是指定环境的温度，不能达到满足更多的温度要求，使其产品的针对性小，且由于环境的不同其对产品的影响也相应的也会发生改变，从而导致对产品寿命的降低，致使成本提高。

有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的LED灯综合测试仪，使其更具有产业上的利用价值。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明的目的是提供一种LED灯综合测试仪。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

LED灯综合测试仪，包括高低温试验控制箱，所述高低温试验控制箱的一侧并接有LED光衰测试装置，且所述LED光衰测试装置配合于高低温试验控制箱布置；

所述高低温试验控制箱由高低温试验箱及高低温控制装置组成，所述高低温控制装置配合于高低温试验箱布置，所述高低温试验箱内开设有一放置产品的容纳腔，所述容纳腔内设置有固定放置架，所述容纳腔的一侧面上开设有通孔，所述通孔布置于与LED光衰测试装置相并接的一侧面，所述通孔上装嵌有透光组件，所述高低温控制装置由控制器、高低温控制器、温度感应器、时长控制器和电源控制器组成，所述控制器的输出端与高低温控制器的输入端相连，所述控制器的输出端还与温度感应器的输入端相连，所述控制器的输出端与时长控制器的输入端相连，所述控制器的输出端与电源控制器的输入端相连，所述温度感应器伸入至容纳腔内布置，所述容纳腔在高低温控制器的控制下，所述容纳腔的温度范围在-50°～300°；

所述LED光衰测试装置由光衰测试通道箱和光衰测试控制装置组成，所述光衰测试通道箱内开设有一光衰测试通道，所述光衰测试通道正对通孔，并与固定放置架上的产品相配合布置，所述光衰测试控制装置由光衰控制器、光衰感应器、采集分析处理装置组成，所述光衰控制器的输出端与光衰感应器的输入端相连，所述光衰感应器的输出端与采集分析处理装置的输入端相连，所述采集分析处理装置的输出端与光衰显示器的输入端相连。

进一步的，所述的LED灯综合测试仪，所述容纳腔的内壁上设置有用于移动固定放置架上下位置的固定卡条，呈相对布置。

进一步的，所述的LED灯综合测试仪，所述固定卡条上开设有多个相同间隔的卡口。

进一步的，所述的LED灯综合测试仪，所述光衰测试通道的直径大于或等于通孔的直径。

进一步的，所述的LED灯综合测试仪，所述容纳腔的温度范围在-40°～280°。

进一步的，所述的LED灯综合测试仪，所述高低温试验控制箱上还设置有高低温显示器，所述高低温显示器与高低温控制装置相连。

进一步的，所述的LED灯综合测试仪，其特征在于：所述透光组件由单层或多层相同材质的透光耐高低温玻璃组成。

进一步的，所述的LED灯综合测试仪，其特征在于：所述光衰感应器在光衰测试通道内设有多个，且相对透光组件布置。

借由上述方案，本发明至少具有以下优点：

本发明通过在高低温控制装置对高低温试验箱的控制下，使高低温试验箱的温度随意可调，使其能模拟出绝大多数地方的温度，使其产品具有更为广泛的应用途径，同时也能保证产品的使用寿命，并且还通过LED光衰测试装置能及时的对产品的光通量、光照度、光亮度进行光衰的采集，并通过采集分析处理装置进行处理分析，得到一准确的数据后，由光衰显示器显示，通过采集分析能及时的分析出当前温度下产品的光衰的情况，使之来针对产品作出相应的处理，来改进产品，从而提高产品的使用寿命。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

图1是本发明的结构示意图；

图2是高低温控制装置的连接结构图；

图3是光衰测试控制装置的连接结构图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。